Методы исследования дефектов структуры полупроводников: учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author:	Елисеев А. А. Аркадий Александрович
Corporate Author:	Московский институт химического машиностроения
Summary:	На обл. авт. не указан
Language:	Russian
Published:	Москва, [Б. и.], 1983
Subjects:	Полупроводники > Дефекты кристаллическая структура кристаллы физико-химические свойства обнаружение дислокации размножение диффузионные процессы травление методы декорирование рентгеноструктурный анализ рентгеновские лучи рассеяние кинематическая теория динамическая теория волновое поле аномальное прохождение дифракционные методы прямые методы учебные пособия
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=293040

Similar Items