• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Расширенный поиск
  • Моделирование на ЭВМ радиацион...
  • Цитировать
  • Отправить по sms
  • Отправить на Email
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Постоянная ссылка
Моделирование на ЭВМ радиационных дефектов в кристаллах: [сборник]

Моделирование на ЭВМ радиационных дефектов в кристаллах: [сборник]

Библиографические подробности
Автор-организация: Академия наук СССР (АН СССР) Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ)
Язык:русский
Опубликовано: Ленинград, Изд-во ФТИ, 1983
Предметы:
Кристаллы > Дефекты > (кристаллография)
неметаллические кристаллы
радиационные дефекты
исследование
машинные методы
квантохимические расчеты
расчет на ЭВМ
точечные дефекты
электронные конфигурации
атомные конфигурации
разупорядоченные полупроводники
микроскопические структуры
Формат: Книга
Запись в KOHA:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=292049
  • Фонды
  • Описание
  • Схожие документы
  • Marc-запись

Схожие документы

  • ЭВМ и моделирование дефектов в кристаллах: тематический сборник
    Опубликовано: (Ленинград, [Б. и.], 1982)
  • Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки: справочное руководство
    Опубликовано: (Москва, Наука, 1976)
  • Теория и моделирование на ЭВМ дефектных структур в кристаллах: сборник научных трудов
    Опубликовано: (Свердловск, Изд-во УНЦ АН СССР, 1986)
  • Введение в теорию дефектов в кристаллах: учебное пособие
    по: Орлов А. Н. Алексей Николаевич
    Опубликовано: (Москва, Высшая школа, 1983)
  • Прямые методы исследования дефектов в кристаллах: пер. с англ.
    Опубликовано: (Москва, Мир, 1965)