• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Aurreratua
  • Моделирование на ЭВМ радиацион...
  • Erreferentzia bihurtu
  • SMS
  • Bidali
  • Imprimir
  • Erregistroa esportatu
    • Nora RefWorks
    • Nora EndNoteWeb
    • Nora EndNote
  • Permanent link
Esportazioa burutua — 
Моделирование на ЭВМ радиационных дефектов в кристаллах: [сборник]

Моделирование на ЭВМ радиационных дефектов в кристаллах: [сборник]

Xehetasun bibliografikoak
Erakunde egilea: Академия наук СССР (АН СССР) Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ)
Hizkuntza:errusiera
Argitaratua: Ленинград, Изд-во ФТИ, 1983
Gaiak:
Кристаллы > Дефекты > (кристаллография)
неметаллические кристаллы
радиационные дефекты
исследование
машинные методы
квантохимические расчеты
расчет на ЭВМ
точечные дефекты
электронные конфигурации
атомные конфигурации
разупорядоченные полупроводники
микроскопические структуры
Formatua: Liburua
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=292049
  • Aleari buruzko argibideak
  • Deskribapena
  • Antzeko izenburuak
  • MARC erregistroa

Antzeko izenburuak

  • ЭВМ и моделирование дефектов в кристаллах: тематический сборник
    Argitaratua: (Ленинград, [Б. и.], 1982)
  • Электронномикроскопические изображения дислокаций и дефектов упаковки: справочное руководство
    Argitaratua: (Москва, Наука, 1976)
  • Теория и моделирование на ЭВМ дефектных структур в кристаллах: сборник научных трудов
    Argitaratua: (Свердловск, Изд-во УНЦ АН СССР, 1986)
  • Введение в теорию дефектов в кристаллах: учебное пособие
    nork: Орлов А. Н. Алексей Николаевич
    Argitaratua: (Москва, Высшая школа, 1983)
  • Прямые методы исследования дефектов в кристаллах: пер. с англ.
    Argitaratua: (Москва, Мир, 1965)