|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
291512 |
| 005 |
20231102000409.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\316090
|
| 090 |
|
|
|a 291512
|
| 100 |
|
|
|a 20150415d1983 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a z 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Надежность оптоэлектронных полупроводниковых приборов
|f В. А. Воротинский, Н. К. Дадерко, Л. П. Егоров
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Радио и связь
|d 1983
|
| 215 |
|
|
|a 136 с.
|c ил.
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр.: с. 131-134
|
| 330 |
|
|
|a Рассмотрены вопросы расчета, экспериментального определения, использования при эксплуатации параметров надежности знакосинтезирующих индикаторов, оптопар, оптоэлектронных микросхем и элементов волоконно-оптических линий связи. Описаны методы форсированных испытаний, неразрушающего контроля и анализа отказов. Исследовано влияние режимов и условий эксплуатации на параметры приборов и проанализированы методы обеспечения надежности в процессе производства оптоэлектронных приборов.
|
| 606 |
1 |
|
|a Оптико-электронные приборы
|x Надежность
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\47181
|9 66241
|
| 610 |
1 |
|
|a полупроводниковые приборы
|
| 610 |
1 |
|
|a расчеты
|
| 610 |
1 |
|
|a эксплуатация
|
| 610 |
1 |
|
|a индикаторы
|
| 610 |
1 |
|
|a микросхемы
|
| 610 |
1 |
|
|a испытания
|
| 610 |
1 |
|
|a неразрушающий контроль
|
| 675 |
|
|
|a 621.383
|v 4
|
| 700 |
|
1 |
|a Воротинский
|b В. А.
|
| 701 |
|
1 |
|a Дадерко
|b Н. К.
|
| 701 |
|
1 |
|a Егоров
|b Л. П.
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20150415
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20170817
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
