Надежность оптоэлектронных полупроводниковых приборов
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , |
| Sumario: | Рассмотрены вопросы расчета, экспериментального определения, использования при эксплуатации параметров надежности знакосинтезирующих индикаторов, оптопар, оптоэлектронных микросхем и элементов волоконно-оптических линий связи. Описаны методы форсированных испытаний, неразрушающего контроля и анализа отказов. Исследовано влияние режимов и условий эксплуатации на параметры приборов и проанализированы методы обеспечения надежности в процессе производства оптоэлектронных приборов. |
| Lenguaje: | ruso |
| Publicado: |
Москва, Радио и связь, 1983
|
| Materias: | |
| Formato: | Libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=291512 |
| Descripción Física: | 136 с. ил. |
|---|---|
| Sumario: | Рассмотрены вопросы расчета, экспериментального определения, использования при эксплуатации параметров надежности знакосинтезирующих индикаторов, оптопар, оптоэлектронных микросхем и элементов волоконно-оптических линий связи. Описаны методы форсированных испытаний, неразрушающего контроля и анализа отказов. Исследовано влияние режимов и условий эксплуатации на параметры приборов и проанализированы методы обеспечения надежности в процессе производства оптоэлектронных приборов. |