MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 288255
005 20231102000053.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\312712 
090 |a 288255 
100 |a 20150324d1984 km y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a DE 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials  |f Y. Waseda 
210 |a Berlin  |c Springer-Verlag  |d 1984 
215 |a 184 с.  |c il. 
225 1 |a Lecture Notes in Physics  |v Vol. 204 
320 |a References: p. 170-177 
320 |a Subject Index: p. 178-184 
606 1 |a Рассеяние пучков ионов  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\23853  |9 48368 
610 1 |a неупорядоченные материалы 
610 1 |a структурные характеристики 
610 1 |a свойства 
610 1 |a рентгеновские лучи 
610 1 |a аномальное рассеяние 
610 1 |a парциальные факторы 
610 1 |a структурные факторы 
610 1 |a структурный анализ 
610 1 |a аномальная дисперсия 
610 1 |a резонансное рассеяние 
610 1 |a применение 
610 1 |a использование 
610 1 |a английский язык 
675 |a 537.534  |v 3 
700 1 |a Waseda  |b Y.  |g Yoshio 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20150324 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20180320  |g RCR 
942 |c BK