Послойный анализ благородных металлов и композитов на их основе методом масс-спектрометрии вторичных ионов, автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук
| 1. autor: | |
|---|---|
| Korporacja: | |
| Kolejni autorzy: | |
| Streszczenie: | защита сост. 26.06.1985 г. |
| Wydane: |
Томск, 1985
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Format: | Książka |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=287691 |
| Opis fizyczny: | 17 с. ил. |
|---|---|
| Streszczenie: | защита сост. 26.06.1985 г. |