|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
286102 |
| 005 |
20231031234302.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\310391
|
| 090 |
|
|
|a 286102
|
| 100 |
|
|
|a 20150303d1984 k y0rusy5003 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a a z 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Дефекты структуры, методы их обнаружения, их влияние на параметры твердотельных приборов
|e сборник научных трудов
|f Московский государственный институт электронной техники (МИЭТ) ; гл. ред. С. К. Максимов
|
| 210 |
|
|
|a Москва
|c Изд-во МИЭТ
|d 1984
|
| 215 |
|
|
|a 110 с.
|c ил.
|d 20 см
|
| 300 |
|
|
|a Вып. дан. 1985
|
| 320 |
|
|
|a Библиогр. в конце ст.
|
| 606 |
1 |
|
|a Полупроводники
|x Дефекты
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50615
|
| 610 |
1 |
|
|a обнаружение
|
| 610 |
1 |
|
|a методы
|
| 610 |
1 |
|
|a параметры
|
| 610 |
1 |
|
|a кристаллы
|
| 675 |
|
|
|a 621.315.592:54
|z rus
|v 3
|
| 702 |
|
1 |
|a Максимов
|b С. К.
|4 651
|
| 712 |
0 |
2 |
|a Московский государственный институт электронной техники (МИЭТ)
|c (1965-1992)
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\col\19357
|
| 801 |
|
0 |
|a RU
|b RuMRKP
|c 19950704
|g psbo
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20150303
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20171006
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
