|
|
|
|
| LEADER |
00000nam0a2200000 4500 |
| 001 |
285571 |
| 005 |
20231101235816.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\309814
|
| 090 |
|
|
|a 285571
|
| 100 |
|
|
|a 20150226d1984 km y0gery50 ba
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a DE
|
| 105 |
|
|
|a a z 001zy
|
| 200 |
1 |
|
|a Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie
|f R. Hillebrand [и др.]
|
| 210 |
|
|
|a Berlin
|c Akademie-Verlag
|d 1984
|
| 215 |
|
|
|a 125 s.
|c il.
|
| 225 |
1 |
|
|a Beitrage zur Forschungstechnologie
|v Bd. 11
|
| 320 |
|
|
|a Literatur: s. 111-118
|
| 320 |
|
|
|a Sachregister: s. 119-121
|
| 606 |
1 |
|
|a Электронная микроскопия
|2 stltpush
|3 (RuTPU)RU\TPU\subj\20357
|9 45466
|
| 610 |
1 |
|
|a электронномикроскопические исследования
|
| 610 |
1 |
|
|a электронномикроскопический анализ
|
| 610 |
1 |
|
|a высокое разрешение
|
| 610 |
1 |
|
|a изображения
|
| 610 |
1 |
|
|a интерпретация
|
| 610 |
1 |
|
|a методы
|
| 610 |
1 |
|
|a расчеты
|
| 610 |
1 |
|
|a ЭВМ
|
| 610 |
1 |
|
|a кристаллические решетки
|
| 610 |
1 |
|
|a атомы
|
| 610 |
1 |
|
|a анализ
|
| 610 |
1 |
|
|a немецкий язык
|
| 675 |
|
|
|a 537.533.3
|v 3
|
| 701 |
|
1 |
|a Hillebrand
|b R.
|
| 701 |
|
1 |
|a Scheerschmidt
|b K.
|
| 701 |
|
1 |
|a Neumann
|b W.
|
| 701 |
|
1 |
|a Werner
|b P.
|
| 701 |
|
1 |
|a Pippel
|b A.
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20150226
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20171222
|g RCR
|
| 942 |
|
|
|c BK
|
