• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avanzata
  • Bildinterpretation in der Hoch...
  • Citazione
  • Invia SMS
  • Invia email
  • Stampa
  • Esporta il record
    • Esporta a RefWorks
    • Esporta a EndNoteWeb
    • Esporta a EndNote
  • PLink permanente
Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie

Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie

Dettagli Bibliografici
Altri autori: Hillebrand R., Scheerschmidt K., Neumann W., Werner P., Pippel A.
Lingua:russo
Pubblicazione: Berlin, Akademie-Verlag, 1984
Serie:Beitrage zur Forschungstechnologie Bd. 11
Soggetti:
Электронная микроскопия
электронномикроскопические исследования
электронномикроскопический анализ
высокое разрешение
изображения
интерпретация
методы
расчеты
ЭВМ
кристаллические решетки
атомы
анализ
немецкий язык
Natura: Libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=285571
  • Posseduto
  • Descrizione
  • Documenti analoghi
  • MARC21
Descrizione
Descrizione fisica:125 s. il.

Documenti analoghi

  • Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени учебное пособие пер. с англ.
    di: Зевайль А. Ахмед
    Pubblicazione: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)
  • Методика электронной микроскопии пер. с нем.
    di: Шиммель Г. Герхард
    Pubblicazione: (Москва, Мир, 1972)
  • Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89) Звенигород, апрель 1989 г.
    Pubblicazione: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)
  • Кн. 2
    Pubblicazione: (1984)
  • Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию пер. с англ.
    di: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
    Pubblicazione: (Москва, Техносфера, 2010)