• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
詳細検索
  • Техническая диагностика иерарх...
  • この資料を引用
  • この資料をSMS送信
  • この資料をメール
  • 印刷
  • エクスポート
    • エクスポート先: RefWorks
    • エクスポート先: EndNoteWeb
    • エクスポート先: EndNote
  • パーマネントリンク
Техническая диагностика иерархических микропроцессорных структур управления объектом: учебное пособие

Техническая диагностика иерархических микропроцессорных структур управления объектом: учебное пособие

書誌詳細
団体著者: Рижский политехнический институт
その他の著者: Бринкис К. А., Гемст В. К., Кивланс И. С., Роганов В. Р.
言語:ロシア語
出版事項: Рига, Изд-во Рижского политехнического ин-та, 1984
主題:
Промышленные предприятия > Управление > Моделирование
микро-ЭВМ
средства
методы
контроль
диагностика
аппаратные средства
программные средства
тестовый контроль
сложные объекты
учебные пособия
フォーマット: 図書
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=283264
  • 所蔵
  • その他の書誌記述
  • 類似資料
  • MARC表示

類似資料

  • Микропроцессорные средства производственных систем
    出版事項: (Ленинград, Машиностроение, 1988)
  • Кн. 5: Малые ЭВМ; Перспективы развития вычислительной техники
    出版事項: (1989)
  • Основы микропроцессорных вычислительных систем: пер. с англ.
    著者:: Данхоф К. Дж. Кеннет Дж.
    出版事項: (Москва, Высшая школа, 1986)
  • Техническая диагностика электронных систем: сборник научных трудов
    出版事項: (Киев, Наукова думка, 1982)
  • Кн. 7: Полупроводниковые запоминающие устройства; Перспективы развития вычислительной техники
    出版事項: (1989)