• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Thin Films Science and Technol...
  • Citar
  • Enviar aquest missatge de text
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Thin Films Science and Technology; V. 2 :  Size Effects in Thin Films

Thin Films Science and Technology; V. 2 : Size Effects in Thin Films

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Tellier C. R.
Altres autors: Tosser A. J.
Idioma:anglès
Publicat: Amsterdam, Elsevier Science Publishing Company, Inc., 1982
Matèries:
Пленки тонкие > Исследование > (твердые тела)
физика
пленки
пленочные элементы
размерные эффекты
электрическая проводимость
гальваномагнитные явления
тепловые свойства
теплопроводность
механические свойства
электромеханические модели
электронное рассеивание
коэффициенты
измерение
английский язык
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=281958
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal
Descripció
Descripció física:297 p. il.

Ítems similars

  • Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis
    per: Feldman L. C. Leonard
    Publicat: (New York, North-Holland, 1986)
  • Тонкие пленки и их применение: материалы II республиканской конференции, Вильнюс, 2-4 декабря 1968 г.
    Publicat: (Вильнюс, [Б. и.], 1969)
  • Quantum-size effects in the loss function of Pb(111) thin films: An ab initio study; Physical Review B; Vol. 95, iss. 23
    Publicat: (2017)
  • Механизм образования и субструктура конденсированных пленок
    per: Палатник Л. С. Лев Самойлович
    Publicat: (Москва, Наука, 1972)
  • Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ.
    per: Фелдман Л. Леонард
    Publicat: (Москва, Мир, 1989)