MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 281530
005 20231101235418.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\305314 
090 |a 281530 
100 |a 20150123d1986 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y z 001zy 
200 1 |a Моделирование на ЭВМ структурночувствительных свойств кристаллических материалов  |e тематический сборник  |f Академия наук СССР (АН СССР), Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ) 
210 |a Ленинград  |c Изд-во ФТИ  |d 1986 
215 |a 188 с. 
320 |a Библиогр. в конце ст. 
606 1 |a Кристаллы  |x Дефекты  |x (кристаллография)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\68763  |9 83924 
610 1 |a химия 
610 1 |a структурночувствительные свойства 
610 1 |a кластеры 
610 1 |a твердые тела 
610 1 |a моделирование 
610 1 |a радиационные дефекты 
610 1 |a квазихимические реакции 
610 1 |a полупроводники 
610 1 |a ионное облучение 
610 1 |a фазовые переходы 
610 1 |a ЭВМ 
610 1 |a кремний 
610 1 |a транспортные свойства 
675 |a 548.4  |v 3 
712 0 2 |a Академия наук СССР (АН СССР)  |b Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ)  |c (Ленинград)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\12056 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20150123 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20170619  |g RCR 
942 |c BK