Anar al contingut
VuFind
    • English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Количественный электронно-зонд...
  • Citar
  • Enviar aquest missatge de text
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Количественный электронно-зондовый микроанализ пер. с англ.

Количественный электронно-зондовый микроанализ пер. с англ.

Dades bibliogràfiques
Altres autors: Скотт В. Д. Виктор Д. (340), Лав Г.
Publicat: Москва, Мир, 1986
Matèries:
рентгеноструктурный анализ
электронно-зондовый микроанализ
количественный микроанализ
рентгеновские лучи
поглощение
поправки
флуоресценция
сравнительный анализ
метод Монте-Карло
покрытия
тонкие пленки
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=280234
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal

Ítems similars

  • Электронно-зондовый микроанализ тонких пленок
    per: Васичев Б. Н. Борис Никитович
    Publicat: (Москва, Металлургия, 1977)
  • Электронно-зондовый микроанализ в исследовании полимеров
    per: Чалых А. Е. Анатолий Евгеньевич
    Publicat: (Москва, Наука, 1990)
  • Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии пер. с англ.
    per: Рид С. Дж. Б.
    Publicat: (Москва, Техносфера, 2008)
  • Электронно-зондовый микроанализ пер. с англ.
    per: Рид С.
    Publicat: (Москва, Мир, 1979)
  • Ч. 2
    Publicat: (1982)