• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Avançada
  • Методы испытаний и оборудовани...
  • Citar
  • Enviar aquest missatge de text
  • Enviar per correu electrònic aquest
  • Imprimir
  • Exportar registre
    • Exportar a RefWorks
    • Exportar a EndNoteWeb
    • Exportar a EndNote
  • Enllaç permanent
Методы испытаний и оборудование для контроля качества полупроводниковых приборов: учебник

Методы испытаний и оборудование для контроля качества полупроводниковых приборов: учебник

Dades bibliogràfiques
Autor principal: Перельман Б. Л. Бениамин Лазаревич
Altres autors: Сидоров В. Г. Владимир Григорьевич
Idioma:rus
Publicat: Москва, Высшая школа, 1986
Edició:2-е изд., перераб. и доп.
Col·lecció:Профессионально-техническое образование
Matèries:
Полупроводниковые приборы > Испытание на надежность
электромонтажные работы
оборудование
наладка
радиодетали
электрические измерения
технические требования
электрические параметры
механические нагрузки
механические испытания
климатические факторы
учебники
Format: Llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=279967
  • Fons
  • Descripció
  • Ítems similars
  • Visualització del personal
Descripció
Descripció física:224 с. ил.

Ítems similars

  • Испытание и исследование полупроводниковых приборов: учебное пособие для вузов
    per: Аронов В. Л. Вадим Львович
    Publicat: (Москва, Высшая школа, 1975)
  • Методы испытаний и оборудование для контроля качества полупроводниковых приборов: учебник для среднего профессионально-технического образования
    per: Перельман Б. Л. Бениамин Лазаревич
    Publicat: (Москва, Высшая школа, 1979)
  • Надежность и испытания радиодеталей и радиокомпонентов: учебник для среднего специального образования
    per: Митрейкин Н. А. Николай Александрович
    Publicat: (Москва, Радио и связь, 1981)
  • Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
    per: Чернышев А. А. Александр Алексеевич
    Publicat: (Москва, Радио и связь, 1988)
  • Выбор аппаратуры для испытаний электрооборудования
    per: Бажанов С. А. Сергей Александрович
    Publicat: (Москва, Энергоатомиздат, 1987)