Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

מידע ביבליוגרפי
מחבר תאגידי:	Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV
מחברים אחרים:	Benninghoven A., Okano J., Shimizu R., Werner H. W.
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Berlin, Springer-Verlag, 1984
סדרה:	SPringer Series in Chemical Physics Vol. 36
נושאים:	Масс-спектрометрия физика химия распыление ионизация квантификация атомы ионы вторичные ионы масс-спектрометры измерительные приборы применение органические соединения металлические материалы неорганические материалы полупроводники конференции Япония английский язык
פורמט:	ספר
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=277226

תיאור
תיאור פיזי:	504 p. il.

פריטים דומים