Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV: Proceedings of the Fourth International Conference, Osaka, Japan, November 13-19, 1983

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo:	Secondary Ion Mass Spectrometry. S. IV
Otros Autores:	Benninghoven A., Okano J., Shimizu R., Werner H. W.
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Berlin, Springer-Verlag, 1984
Colección:	SPringer Series in Chemical Physics Vol. 36
Materias:	Масс-спектрометрия физика химия распыление ионизация квантификация атомы ионы вторичные ионы масс-спектрометры измерительные приборы применение органические соединения металлические материалы неорганические материалы полупроводники конференции Япония английский язык
Formato:	Libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=277226

Descripción
Descripción Física:	504 p. il.

Ejemplares similares