MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 270876
005 20231101234402.0
020 |a RU  |b 87-32043 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\294057 
090 |a 270876 
100 |a 20141002d1987 k a0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Эллипсометрия: теория, методы, приложения  |f Академия наук СССР (АН СССР), Сибирское отделение (СО), Институт физики полупроводников (ИФП) ; под ред. А. В. Ржанова, Л. А. Ильиной 
210 |a Новосибирск  |c Наука  |d 1987 
215 |a 191 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр. в конце докл. 
606 1 |a Эллипсометрия  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\21159  |9 46192 
610 1 |a теория 
610 1 |a методы 
610 1 |a приложения 
610 1 |a шероховатые поверхности 
610 1 |a анизотропные среды 
610 1 |a математический анализ 
675 |a 539.211  |z rus 
702 1 |a Ржанов  |b А. В.  |g Анатолий Васильевич  |4 340 
702 1 |a Ильина  |b Л. А.  |4 340 
712 0 2 |a Академия наук СССР (АН СССР)  |b Сибирское отделение (СО)  |b Институт физики полупроводников (ИФП)  |c (Новосибирск)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\11385 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19960705  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20141002 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160219  |g RCR 
942 |c BK