MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 267731
005 20231101234114.0
020 |a RU  |b 86-92967 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\290810 
090 |a 267731 
100 |a 20140805d1986 k y0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Методы спектроскопии полупроводников  |f Академия наук СССР (АН СССР), Сибирское отделение (СО), Институт физики полупроводников (ИФП) ; под ред. Э. М. Скока 
210 |a Новосибирск  |c Изд-во ИФП  |d 1986 
215 |a 167 с.  |c ил.  |d 20 см 
320 |a Библиогр.: с. 151-165 
606 1 |a Полупроводниковые соединения  |x Спектроскопические исследования  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50734  |9 69384 
610 1 |a полупроводники 
610 1 |a фотоэлектрическая спектроскопия 
610 1 |a свет 
610 1 |a спонтанное комбинаторное рассеяние 
610 1 |a фотоемкостная спектроскопия 
610 1 |a примеси 
610 1 |a глубокие уровни 
675 |a 539.2:535  |z rus  |v 3 
702 1 |a Скок  |b Э. М.  |g Эрнст Михайлович  |4 340 
712 0 2 |a Академия наук СССР (АН СССР)  |b Сибирское отделение (СО)  |b Институт физики полупроводников (ИФП)  |c (Новосибирск)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\11385 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19960705  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140805 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160909  |g RCR 
942 |c BK