MARC

LEADER 00000nlm0a2200000 4500
001 267448
005 20240131152923.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\290505 
090 |a 267448 
100 |a 20140729d2014 m y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a j 001zy 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Радиационные методы контроля. Рентгеновская дифрактометрия  |e учебное пособие  |f А. П. Суржиков, А. М. Притулов, Е. А. Васендина  |g Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) 
203 |a Текст  |c электронный 
210 |a Томск  |c Изд-во ТПУ  |d 2014 
300 |a Заглавие с титульного экрана 
333 |a Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ 
337 |a Adobe Reader 
606 1 |a Рентгенофазовый анализ  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\73731  |9 86564 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a учебные пособия 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a рентгеновское излучение 
610 1 |a дифракционные элементы 
610 1 |a кристаллография 
610 1 |a рентгеновский анализ 
610 1 |a дифракционный анализ 
675 |a 543.54(075.8)  |v 3 
700 1 |a Суржиков  |b А. П.  |c физик  |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук  |f 1951-  |g Анатолий Петрович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\22010  |9 9307 
701 1 |a Притулов  |b А. М.  |c российский учёный в области электроники, диэлектриков и полупроводников  |c ведущий научный сотрудник Томского политехнического университета  |g Александр Михайлович  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28169 
701 1 |a Васендина  |b Е. А.  |c специалист в области электротехники  |c доцент Томского политехнического университета, инженер, кандидат технических наук  |f 1975-  |g Елена Александровна  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\28171  |9 13129 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)  |b Институт неразрушающего контроля (ИНК)  |b Кафедра физических методов и приборов контроля качества (ФМПК)  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18709 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140729 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20160617  |g RCR 
856 4 |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2014/m242.pdf 
942 |c CF