MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 265403
005 20231101233922.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\288404 
090 |a 265403 
100 |a 20140626d1986 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a LV 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Тестовое диагностирование логических структур  |f Академия наук Латвийской ССР (АН ЛатССР), Институт электроники и вычислительной техники (ИЭиВТ) ; под ред. В. А. Пелипейко 
210 |a Рига  |c Зинатне  |d 1986 
215 |a 263 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 348-257. 
320 |a Предметный указатель: с. 258-259. 
606 1 |a Цифровая схемотехника  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\60463  |9 77751 
610 1 |a логические структуры 
610 1 |a тестовый контроль 
610 1 |a методы 
610 1 |a средства 
610 1 |a узлы 
610 1 |a блоки 
610 1 |a аппаратура 
610 1 |a тесты 
610 1 |a построение 
610 1 |a диагностирование 
610 1 |a качество 
675 |a 681.325.65  |v 3 
702 1 |a Пелипейко  |b В. А.  |4 340 
712 0 2 |a Академия наук Латвийской ССР (АН ЛатССР)  |b Институт электроники и вычислительной техники (ИЭиВТ)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\6601 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140626 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20151207  |g RCR 
942 |c BK