MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 261349
005 20231101233546.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\284325 
090 |a 261349 
100 |a 20140522d1972 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Доменная электрическая неустойчивость в полупроводниках  |f В. Л. Бонч-Бруевич, И. П. Звягин, А. Г. Миронов 
210 |a Москва  |c Наука  |d 1972 
215 |a 415 с.  |c ил. 
225 1 |a Физика полупроводников и полупроводниковых приборов 
320 |a Библиогр.: с. 399-412. 
320 |a Предметный указатель: с. 413-414. 
606 1 |a Полупроводники  |x Электрические свойства  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50636  |9 69288 
610 1 |a дифференциальная проводимость 
610 1 |a температурно-электрическая неустойчивость 
610 1 |a флуктуации 
610 1 |a микроскопическая теория 
610 1 |a кинетическое уравнение 
610 1 |a теория слабого сигнала 
610 1 |a статические домены 
610 1 |a стационарное движение 
610 1 |a вольтамперные характеристики 
610 1 |a поле 
610 1 |a заряд 
610 1 |a распределения 
610 1 |a устойчивость 
610 1 |a звукоэлектрические домены 
610 1 |a проблемы 
675 |a 537.311.322  |v 3 
700 1 |a Бонч-Бруевич  |b В. Л.  |g Виктор Леопольдович 
701 1 |a Звягин  |b И. П.  |g Игорь Петрович 
701 1 |a Миронов  |b А. Г.  |g Александр Григорьевич 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140522 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20220825  |g RCR 
942 |c BK