Техника электронной микроскопии: пер. с англ.

Техника электронной микроскопии: пер. с англ.

Бібліографічні деталі
Інші автори:	Кэй Д. (редактор)
Мова:	Російська
Опубліковано:	Москва, Мир, 1965
Предмети:	Электронные микроскопы работа вспомогательная аппаратура пленки-подложки нанесение метод реплик метод оттенения мелкие частицы фиксация заливка окраска тонкие срезы металлические пленки вакуум электронная дифракция
Формат:	Книга
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=260354

Схожі ресурси

Практика электронной микроскопии. Методы препарирования
за авторством: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Опубліковано: (Москва, Машгиз, 1961)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Опубліковано: (Москва, [Б. и.], 1978)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
за авторством: Кушнир Ю. М.
Опубліковано: (Москва, ОГИЗ, 1947)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
за авторством: Кушнир Ю. М.
Опубліковано: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)

Электронный микроскоп
за авторством: Клементьев С. Д.
Опубліковано: (Москва, Изд-во технико-теоретической литературы, 1953)

Study of thin metallic film explosion in vacuum; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 830 : Energy Fluxes and Radiation Effects 2016
Опубліковано: (2017)

Методика определения распределения диаметров пор в тонких металлических плёнках; Приборы и техника эксперимента; № 1
за авторством: Четвериков Н. И.
Опубліковано: (2003)

Т. 1; Технология тонких пленок
Опубліковано: (1977)

Технология тонких пленок: практикум
за авторством: Никулин Д. М.
Опубліковано: (Новосибирск, СГУГиТ, 2023)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH[4] и последующей термообработкой: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
за авторством: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Опубліковано: (Томск, 2023)

Влияние температуры отжига и материала промежуточного подслоя на деградацию тонких плёнок CU на кремниевой и поликоровой подложках; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1
за авторством: Лязгин А. О.
Опубліковано: (2009)

Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов
за авторством: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Опубліковано: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)

Modification of optical and electrical properties of SnO[2] under the influence of argon ion beam; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 830 : Energy Fluxes and Radiation Effects 2016
за авторством: Umnov S. P. Sergey Pavlovich
Опубліковано: (2017)

Современные методы исследования структуры и физико-механических свойств металлических материалов. Лабораторный практикум: учебно-методическое пособие
Опубліковано: (Томск, Изд-во ТПУ, 2025)

Механизм образования и субструктура конденсированных пленок
за авторством: Палатник Л. С. Лев Самойлович
Опубліковано: (Москва, Наука, 1972)

Безопасность при работах по нанесению тонких пленок
за авторством: Патрушева Т. Н.
Опубліковано: (Санкт-Петербург, БГТУ "Военмех" им. Д.Ф. Устинова, 2021)

Свойства тонких пленок системы Та2О5-La2O3, полученных золь-гель методом; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 308, № 1
за авторством: Лисеенко О. В.
Опубліковано: (2005)

Электрические явления в тонких пленках: Избранные главы из книги "Thin film phenomena"; пер. с англ.
за авторством: Чопра К. Л.
Опубліковано: (Москва, Мир, 1972)

Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
за авторством: Шиммель Г. Герхард
Опубліковано: (Москва, Мир, 1972)

Влияние материала промежуточного подслоя на деградацию тонких плёнок CU на различных подложках в процессе термического отжига; Ресурсоэффективным технологиям - энергию и энтузиазм молодых
за авторством: Лязгин А. О.
Опубліковано: (2010)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH4 и последующей термообработкой: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
за авторством: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Опубліковано: (Томск, 2023)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH4 и последующей термообработкой: диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
за авторством: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Опубліковано: (Якутск, 2023)

Эффекты многократного рассеяния осколков деления в слоях делящегося вещества; Атомная энергия; Т. 100, вып. 1
за авторством: Шорин В. С.
Опубліковано: (2006)

Гравиметрический метод анализа титанового покрытия; Химия и химическая технология в XXI веке
за авторством: Молчанова А. С.
Опубліковано: (2020)

Антифрикционные тонкоплёночные покрытия на основе дисульфида молибдена; Справочник. Инженерный журнал; № 3
за авторством: Панфилов Ю. В.
Опубліковано: (2003)

Гистологическая техника
за авторством: Соловьёва Л. П.
Опубліковано: (пос. Караваево, КГСХА, 2020)

Исследование полупроводниковых пленок Cu2S методами атомно-силовой микроскопии; Функциональные материалы: разработка, исследование, применение
за авторством: Дронова М. В.
Опубліковано: (2014)

Радиоволновая эллипсометрия
за авторством: Конев В. А. Владимир Афанасьевич
Опубліковано: (Минск, Наука и техника, 1985)

Свойства пленок двуокиси кремния, полученных электронно - плазменным методом: Отчет о НИР; Тема : № х/д № 113/67
Опубліковано: (Томск, 1970)

Метод оценки толщины ультратонких плёнок; Приборы и техника эксперимента; № 3
за авторством: Стогний А. И.
Опубліковано: (2003)

Исследование поверхностной плотности заряда тонких оксидных покрытий TiO2, полученных методом магнетронного распыления; Современные техника и технологии; Т. 3
за авторством: Морозова Н. С. Наталья Сергеевна
Опубліковано: (2010)

Зависимость скорости нанесения покрытий от параметров магнетронного разряда; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1
за авторством: Шабунин А. С. Артём Сергеевич
Опубліковано: (2009)

Электронная жидкость нормальных металлов
за авторством: Кондратьев А. С. Александр Сергеевич
Опубліковано: (Ленинград, Изд-во Ленинградского ун-та, 1980)

Экспериментальные свидетельства магнитно-двухфазного состояния в тонких эпитаксиальных пленках [Re0.6Ba0.4MnO3] (Re=La, Pr, Nd, Gd); Журнал экспериментальной и теоретической физики; Т. 125, вып. 3
Опубліковано: (2004)

Влияние формы и длительности внешнего импульса на динамику перераспределения материала между тонкой пленкой и подложкой; Иерархические материалы: разработка и приложения для новых технологий и надежных конструкций
за авторством: Парфёнова Е. С.
Опубліковано: (2019)

Обнаружение фотопроводимости в сверхтонких металлических пленках в видимой инфракрасной областях спектра; Журнал экспериментальной и теоретической физики; Т. 123, вып. 5
Опубліковано: (2003)

Mechanisms of stress generation and relaxation in thin films and coatings; AIP Conference Proceedings; Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014
за авторством: Shugurov A. R. Artur Rubinovich
Опубліковано: (2014)

Characterization of nitrogen-containing titanium dioxide thin films by X-ray diffraction and IR spectroscopy techniques; Перспективы развития фундаментальных наук
за авторством: Пустовалова А. А. Алла Александровна
Опубліковано: (2015)

Исследование морфологии и спектральных свойств гетерокомпозиций GESI/SI, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; Спец. 01.04.15
за авторством: Лапин В. А. Вячеслав Анатольевич
Опубліковано: (Нальчик, 2013)

Формирование тонких пленок в силикофосфатной системе; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 316, № 3: Химия
за авторством: Петровская Т. С. Татьяна Семёновна
Опубліковано: (2010)