Техника электронной микроскопии: пер. с англ.

Техника электронной микроскопии: пер. с англ.

Sonraí bibleagrafaíochta
Rannpháirtithe:	Кэй Д. (редактор)
Teanga:	Rúisis
Foilsithe / Cruthaithe:	Москва, Мир, 1965
Ábhair:	Электронные микроскопы работа вспомогательная аппаратура пленки-подложки нанесение метод реплик метод оттенения мелкие частицы фиксация заливка окраска тонкие срезы металлические пленки вакуум электронная дифракция
Formáid:	LEABHAR
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=260354

Míreanna comhchosúla

Практика электронной микроскопии. Методы препарирования
de réir: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Машгиз, 1961)

Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, [Б. и.], 1978)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
de réir: Кушнир Ю. М.
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, ОГИЗ, 1947)

Окно в невидимое (электронный микроскоп)
de réir: Кушнир Ю. М.
Foilsithe / Cruthaithe: (Молотов, Молотовское областное издательство, 1949)

Электронный микроскоп
de réir: Клементьев С. Д.
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Изд-во технико-теоретической литературы, 1953)

Методика определения распределения диаметров пор в тонких металлических плёнках; Приборы и техника эксперимента; № 1
de réir: Четвериков Н. И.
Foilsithe / Cruthaithe: (2003)

Study of thin metallic film explosion in vacuum; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 830 : Energy Fluxes and Radiation Effects 2016
Foilsithe / Cruthaithe: (2017)

Т. 1; Технология тонких пленок
Foilsithe / Cruthaithe: (1977)

Основы электронной микроскопии: учебное пособие для вузов
de réir: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Foilsithe / Cruthaithe: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH[4] и последующей термообработкой: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
de réir: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Foilsithe / Cruthaithe: (Томск, 2023)

Влияние температуры отжига и материала промежуточного подслоя на деградацию тонких плёнок CU на кремниевой и поликоровой подложках; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1
de réir: Лязгин А. О.
Foilsithe / Cruthaithe: (2009)

Modification of optical and electrical properties of SnO[2] under the influence of argon ion beam; Journal of Physics: Conference Series; Vol. 830 : Energy Fluxes and Radiation Effects 2016
de réir: Umnov S. P. Sergey Pavlovich
Foilsithe / Cruthaithe: (2017)

Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
de réir: Шиммель Г. Герхард
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Мир, 1972)

Механизм образования и субструктура конденсированных пленок
de réir: Палатник Л. С. Лев Самойлович
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Наука, 1972)

Т. 6; Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения
Foilsithe / Cruthaithe: (1973)

Т. 7; Физика тонких пленок. Современное состояние исследований и технические применения
Foilsithe / Cruthaithe: (1977)

Свойства тонких пленок системы Та2О5-La2O3, полученных золь-гель методом; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 308, № 1
de réir: Лисеенко О. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2005)

Практические методы в электронной микроскопии: пер. с англ.
Foilsithe / Cruthaithe: (Ленинград, Машиностроение, 1980)

Электрические явления в тонких пленках: Избранные главы из книги "Thin film phenomena"; пер. с англ.
de réir: Чопра К. Л.
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Мир, 1972)

Интерференционные покрытия. Оптические свойства и методы исследования
de réir: Крылова Т. Н. Татьяна Николаевна
Foilsithe / Cruthaithe: (Ленинград, Машиностроение, 1973)

Современные методы исследования структуры и физико-механических свойств металлических материалов. Лабораторный практикум: учебно-методическое пособие
Foilsithe / Cruthaithe: (Томск, Изд-во ТПУ, 2025)

Физика металлических пленок
de réir: Комник Ю. Ф. Юрий Федорович
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Атомиздат, 1979)

Гравиметрический метод анализа титанового покрытия; Химия и химическая технология в XXI веке
de réir: Молчанова А. С.
Foilsithe / Cruthaithe: (2020)

Тонкопленочная технология: пер. с англ.
de réir: Берри Р.
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Энергия, 1972)

Влияние материала промежуточного подслоя на деградацию тонких плёнок CU на различных подложках в процессе термического отжига; Ресурсоэффективным технологиям - энергию и энтузиазм молодых
de réir: Лязгин А. О.
Foilsithe / Cruthaithe: (2010)

Обнаружение фотопроводимости в сверхтонких металлических пленках в видимой инфракрасной областях спектра; Журнал экспериментальной и теоретической физики; Т. 123, вып. 5
Foilsithe / Cruthaithe: (2003)

Исследование полупроводниковых пленок Cu2S методами атомно-силовой микроскопии; Функциональные материалы: разработка, исследование, применение
de réir: Дронова М. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)

Метод оценки толщины ультратонких плёнок; Приборы и техника эксперимента; № 3
de réir: Стогний А. И.
Foilsithe / Cruthaithe: (2003)

Антифрикционные тонкоплёночные покрытия на основе дисульфида молибдена; Справочник. Инженерный журнал; № 3
de réir: Панфилов Ю. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2003)

Исследование ультрадисперсного αC(3)N(4) методом просвечивающей электронной микроскопии; Современные техника и технологии; Т. 3
de réir: Пак А. Я. Александр Яковлевич
Foilsithe / Cruthaithe: (2011)

Свойства пленок двуокиси кремния, полученных электронно - плазменным методом: Отчет о НИР; Тема : № х/д № 113/67
Foilsithe / Cruthaithe: (Томск, 1970)

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
de réir: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Foilsithe / Cruthaithe: (Москва, Техносфера, 2010)

Зависимость скорости нанесения покрытий от параметров магнетронного разряда; Перспективы развития фундаментальных наук; Т. 1
de réir: Шабунин А. С. Артём Сергеевич
Foilsithe / Cruthaithe: (2009)

Исследование поверхностной плотности заряда тонких оксидных покрытий TiO2, полученных методом магнетронного распыления; Современные техника и технологии; Т. 3
de réir: Морозова Н. С. Наталья Сергеевна
Foilsithe / Cruthaithe: (2010)

Формирование тонких пленок в силикофосфатной системе; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 316, № 3: Химия
de réir: Петровская Т. С. Татьяна Семёновна
Foilsithe / Cruthaithe: (2010)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH4 и последующей термообработкой: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
de réir: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Foilsithe / Cruthaithe: (Томск, 2023)

Синтез и исследование свойств тонких углеродных пленок, полученных методом осаждения в плазме CH4 и последующей термообработкой: диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук; спец. 1.3.8
de réir: Прокопьев А. Р. Айсен Русланович
Foilsithe / Cruthaithe: (Якутск, 2023)

Исследование полупроводниковых пленок CU2S методами атомно-силовой микроскопии; Современное материаловедение: материалы и технологии новых поколений
de réir: Дронова М. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)

Mechanisms of stress generation and relaxation in thin films and coatings; AIP Conference Proceedings; Vol. 1623 : International Conference on Physical Mesomechanics of Multilevel Systems 2014, Tomsk, Russia, 3–5 September 2014
de réir: Shugurov A. R. Artur Rubinovich
Foilsithe / Cruthaithe: (2014)

Исследование характеристик тонкоплёночных покрытий с высокой адгезией; Современные техника и технологии; Т. 2
de réir: Шакалова Т. В.
Foilsithe / Cruthaithe: (2004)