MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 259242
005 20231031220604.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\282158 
090 |a 259242 
100 |a 20140506d1981 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках  |f В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова 
210 |a Москва  |c Наука  |d 1981 
215 |a 368 с.  |c ил. 
225 1 |a Физика полупроводников и полупроводниковых приборов 
320 |a Библиогр.: с. 332-360, 367-368. 
606 1 |a Полупроводники  |x Дефекты  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\50558 
610 1 |a дефектообразование 
610 1 |a атомы 
610 1 |a термофлуктуационное смещение 
610 1 |a кристаллы 
610 1 |a бинарные полупроводники 
610 1 |a диффузия 
610 1 |a излучение 
610 1 |a ионная имплантация 
610 1 |a прикладные задачи 
675 |a 537.311.322:539  |v 3 
700 1 |a Вавилов  |b В. С.  |g Виктор Сергеевич 
701 1 |a Кив  |b А. Е.  |g Арик Ефимович 
701 1 |a Ниязова  |b О. Р.  |g Озод Рахимовна 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140506 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150203  |g RCR 
942 |c BK