Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Вавилов В. С. Виктор Сергеевич
Altres autors:	Кив А. Е. Арик Ефимович, Ниязова О. Р. Озод Рахимовна
Idioma:	rus
Publicat:	Москва, Наука, 1981
Col·lecció:	Физика полупроводников и полупроводниковых приборов
Matèries:	Полупроводники > Дефекты дефектообразование атомы термофлуктуационное смещение кристаллы бинарные полупроводники диффузия излучение ионная имплантация прикладные задачи
Format:	Llibre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=259242

Descripció
Descripció física:	368 с. ил.

Ítems similars