Вавилов В. С. Виктор Сергеевич, Кив А. Е. Арик Ефимович, & Ниязова О. Р. Озод Рахимовна. (1981). Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. Москва, Наука, 1981.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Вавилов В. С. Виктор Сергеевич, Кив А. Е. Арик Ефимович, und Ниязова О. Р. Озод Рахимовна. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. Москва, Наука, 1981, 1981.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Вавилов В. С. Виктор Сергеевич, et al. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. Москва, Наука, 1981, 1981.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.