Вавилов В. С. Виктор Сергеевич, Кив А. Е. Арик Ефимович, & Ниязова О. Р. Озод Рахимовна. (1981). Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. Москва, Наука, 1981.
Chicago-viite (17. p.)Вавилов В. С. Виктор Сергеевич, Кив А. Е. Арик Ефимович, ja Ниязова О. Р. Озод Рахимовна. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. Москва, Наука, 1981, 1981.
MLA-viite (9. p.)Вавилов В. С. Виктор Сергеевич, et al. Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках. Москва, Наука, 1981, 1981.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.