• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Розширений
  • Технологический контроль разме...
  • Цитувати
  • Відправити по sms
  • Відправити е-поштою
  • Друк
  • Експортувати запис
    • Екпортувати в RefWorks
    • Екпортувати в EndNoteWeb
    • Екпортувати в EndNote
  • Постійне посилання
Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве

Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве

Бібліографічні деталі
Автор: Быстров Ю. А. Юрий Александрович
Інші автори: Колгин Е. А. Евгений Алексеевич, Котлецов Б. Н. Борис Николаевич
Мова:Російська
Опубліковано: Москва, Радио и связь, 1988
Предмети:
Микроэлектронные схемы > Производство
интегральные микросхемы
технический контроль
размеры
оптические микроскопы
методы измерения
пластины
пленки
микроструктуры
травление
Формат: Книга
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=258010
  • Примірники
  • Опис
  • Схожі ресурси
  • Службовий вигляд

Схожі ресурси

  • Технология изготовления интегральных микросхем: конспект лекций; Ч. 2
    за авторством: Скачков П. С. Павел Сергеевич
    Опубліковано: (Москва, Изд-во МГИ, 1984)
  • Вып. 8; Активируемые процессы технологии микроэлектроники
    Опубліковано: (1986)
  • Вып. 4; Активируемые процессы технологии микроэлектроники
    Опубліковано: (1978)
  • Вып. 3; Активируемые процессы технологии микроэлектроники
    Опубліковано: (1978)
  • Вып. 7; Активируемые процессы технологии микроэлектроники
    Опубліковано: (1984)