Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем: материалы IV всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 16-18 июня 1987 г.

Библиографические подробности
Корпоративные авторы: Рязанский радиотехнический институт (РРИ), Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем семинар
Язык:русский
Опубликовано: Рязань, Изд-во РРТИ, 1988
Формат: Книга
Запись в KOHA:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=256608

Схожие документы