Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем, материалы IV всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 16-18 июня 1987 г.

Detaylı Bibliyografya
Kurumsal yazarlar: Рязанский радиотехнический институт (РРИ), Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем семинар
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: Рязань, Изд-во РРТИ, 1988
Materyal Türü: Kitap
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=256608

MARC

LEADER 00000nam1a2200000 4500
001 256608
005 20231031215601.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\279322 
035 |a RU\TPU\book\281207 
090 |a 256608 
100 |a 20140424d1988 k y0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
200 1 |a Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем  |e материалы IV всесоюзного научно-технического семинара, Рязань, 16-18 июня 1987 г.  |f Рязанский радиотехнический институт (РРИ) 
210 |a Рязань  |c Изд-во РРТИ  |d 1988 
712 0 2 |a Рязанский радиотехнический институт (РРИ)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\109 
712 1 2 |a Пути повышения стабильности и надежности микроэлементов и микросхем  |b семинар  |d 4  |e Рязань  |f 1987 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140410 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150305  |g RCR 
942 |c BK