MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 254036
005 20231101232911.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\276458 
090 |a 254036 
100 |a 20140318d1989 k y0rusy50 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y z 101zy 
200 1 |a Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89)  |e Звенигород, апрель 1989 г.  |f Академия наук СССР (АН СССР), Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (ИК) ; Академия наук СССР (АН СССР), Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов ; под ред. В. В. Аристова 
210 |a Звенигород  |c Изд-во АН СССР  |d 1989 
215 |a 222 с. 
320 |a Авторский указатель: с. 216-221. 
606 1 |a Электронная микроскопия  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\20357  |9 45466 
610 1 |a симпозиумы 
610 1 |a аналитические методы 
610 1 |a твердые тела 
610 1 |a приборостроение 
610 1 |a применение 
610 1 |a микроэлектроника 
610 1 |a изображения 
610 1 |a обработка 
610 1 |a аналитические методы 
675 |a 537.533.3(063)  |v 3 
702 1 |a Аристов  |b В. В.  |4 340 
712 1 2 |a Растровая электронная микроскопия и аналитические медоды исследования твердых тел (РЭМ - 89)  |c симпозиум  |d VI  |e Звенигород  |f 1989 
712 0 2 |a Академия наук СССР (АН СССР)  |b Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (ИК)  |c (Москва)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\11554 
712 0 2 |a Академия наук СССР (АН СССР)  |b Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\13268 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140318 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20140530  |g RCR 
942 |c BK