• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Gelişmiş
  • Тезисы докладов VI Всесоюзного...
  • Alıntıla
  • Telefona gönder
  • E-posta Gönder
  • Yazdır
  • Kaydı İhraç Et
    • İhraç Et RefWorks
    • İhraç Et EndNoteWeb
    • İhraç Et EndNote
  • Kalıcı bağlantı
Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89): Звенигород, апрель 1989 г.

Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89): Звенигород, апрель 1989 г.

Detaylı Bibliyografya
Kurumsal yazarlar: Растровая электронная микроскопия и аналитические медоды исследования твердых тел (РЭМ - 89), Академия наук СССР (АН СССР) Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (ИК), Академия наук СССР (АН СССР) Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов
Diğer Yazarlar: Аристов В. В. (редактор)
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989
Konular:
Электронная микроскопия
симпозиумы
аналитические методы
твердые тела
приборостроение
применение
микроэлектроника
изображения
обработка
Materyal Türü: Kitap
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=254036
  • Erişim Bilgileri
  • Diğer Bilgiler
  • Benzer Materyaller
  • MARC Görünümü
Diğer Bilgiler
Fiziksel Özellikler:222 с.

Benzer Materyaller

  • Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
  • Применение электронной микроскопии в современной технике: тезисы докладов симпозиума
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, [Б. и.], 1978)
  • Методика электронной микроскопии: пер. с нем.
    Yazar:: Шиммель Г. Герхард
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Мир, 1972)
  • Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию: пер. с англ.
    Yazar:: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Техносфера, 2010)
  • Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени: учебное пособие; пер. с англ.
    Yazar:: Зевайль А. Ахмед
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)