• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Pokročilé
  • Тезисы докладов VI Всесоюзного...
  • Vytvořit citaci
  • Zaslat SMS
  • Poslat e-mailem
  • Vytisknout
  • Exportovat záznam
    • Exportovat do RefWorks
    • Exportovat do EndNoteWeb
    • Exportovat do EndNote
  • Trvalý odkaz
Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89) Звенигород, апрель 1989 г.

Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89), Звенигород, апрель 1989 г.

Podrobná bibliografie
Korporace: Растровая электронная микроскопия и аналитические медоды исследования твердых тел (РЭМ - 89), Академия наук СССР (АН СССР) Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова (ИК), Академия наук СССР (АН СССР) Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов
Další autoři: Аристов В. В. (340)
Vydáno: Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989
Témata:
симпозиумы
аналитические методы
твердые тела
приборостроение
применение
микроэлектроника
изображения
обработка
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=254036
  • Jednotky
  • Popis
  • Podobné jednotky
  • UNIMARC/MARC
Popis
Fyzický popis:222 с.

Podobné jednotky

  • Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
    Vydáno: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
  • Методика электронной микроскопии пер. с нем.
    Autor: Шиммель Г. Герхард
    Vydáno: (Москва, Мир, 1972)
  • Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию пер. с англ.
    Autor: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
    Vydáno: (Москва, Техносфера, 2010)
  • Применение электронной микроскопии в современной технике тезисы докладов симпозиума
    Vydáno: (Москва, [Б. и.], 1978)
  • Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени учебное пособие пер. с англ.
    Autor: Зевайль А. Ахмед
    Vydáno: (Долгопрудный, Интеллект, 2013)