Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики: учебное пособие
| 1. autor: | |
|---|---|
| Korporacja: | |
| Streszczenie: | Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы. электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния вещества». |
| Język: | rosyjski |
| Wydane: |
Томск, Изд-во ТПУ, 2013
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Format: | Książka |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=252515 |
| Opis fizyczny: | 202 с. ил. |
|---|---|
| Streszczenie: | Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы. электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 «Физика конденсированного состояния вещества». |
| ISBN: | 9785438703495 |