MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 250515
005 20231101232553.0
010 |a 5020286877 
020 |a RU  |b 89-16949 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\272722 
090 |a 250515 
100 |a 20140213d1989 k y0rusy5003 ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов  |f В. И. Лисойван, С. А. Громилов  |g Академия наук СССР (АН СССР), Сибирское отделение (СО), Институт неорганической химии им. А. В. Николаева (ИНХ) ; под ред. Д. М. Хейкера 
210 |a Новосибирск  |c Наука  |d 1989 
215 |a 239 с.  |c ил. 
320 |a Библиогр.: с. 224-240 (313 назв.) 
606 1 |a Кристаллы  |x Рентгеноструктурный анализ  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\80345  |9 88070 
610 1 |a точность 
610 1 |a дифрактометры 
610 1 |a поликристаллы 
610 1 |a аберрации 
610 1 |a светосила 
610 1 |a межплоскостные расстояния 
610 1 |a эталоны 
610 1 |a погрешности 
610 1 |a точные данные 
675 |a 548.73  |z rus 
700 1 |a Лисойван  |b В. И.  |g Владимир Иванович 
701 1 |a Громилов  |b С. А.  |g Сергей Александрович 
702 1 |a Хейкер  |b Д. М.  |4 340 
712 0 2 |a Академия наук СССР (АН СССР)  |b Сибирское отделение (СО)  |b Институт неорганической химии им. А. В. Николаева (ИНХ)  |c (Новосибирск)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\12178 
801 0 |a RU  |b RuMRKP  |c 19950417  |g psbo 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20140213 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20200828  |g RCR 
942 |c BK