Оценивание числа клеток на изображениях цитологических растительных препаратов; Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]; Т. 322, № 5 : Управление, вычислительная техника и информатика
| Parent link: | Известия Томского политехнического университета [Известия ТПУ]/ Томский политехнический университет (ТПУ).— , 2000- Т. 322, № 5 : Управление, вычислительная техника и информатика.— 2013.— [С. 187-193] |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| מחברים אחרים: | |
| סיכום: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Предложен алгоритм для подсчета вакуолей (растительных клеток) на изображении. Алгоритм позволяет выделить контуры клеток в массивах слипшихся клеток путем разбиения диапазона яркости изображения на слои с последующим применением в каждом слое полутоновой эрозии и дилатации, преобразования "верх шляпы" и пороговой сегментации. При подсчете клеток используется аппроксимация их контуров эллипсами. Алгоритм может быть использован в различных приложениях, например при определении скорости распада клеточных структур по серии изображений. |
| שפה: | רוסית |
| יצא לאור: |
2013
|
| סדרה: | Алгоритмическое и программное обеспечение |
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | http://earchive.tpu.ru/bitstream/11683/4829/1/bulletin_tpu-2013-322-5-37.pdf |
| פורמט: | אלקטרוני Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=240479 |
| תיאור פיזי: | 1 файл (1.8 Мб) |
|---|---|
| סיכום: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Предложен алгоритм для подсчета вакуолей (растительных клеток) на изображении. Алгоритм позволяет выделить контуры клеток в массивах слипшихся клеток путем разбиения диапазона яркости изображения на слои с последующим применением в каждом слое полутоновой эрозии и дилатации, преобразования "верх шляпы" и пороговой сегментации. При подсчете клеток используется аппроксимация их контуров эллипсами. Алгоритм может быть использован в различных приложениях, например при определении скорости распада клеточных структур по серии изображений. |