Электронно-лучевой контроль качества токопроводящего слоя резисторов

Электронно-лучевой контроль качества токопроводящего слоя резисторов

Bibliographic Details
Parent link:Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976
Т. 296 : Неразрушающие методы контроля.— 1976.— [С. 137-140]
Other Authors: Горбунов В. И. Владимир Иванович, Свирякин Д. И., Филишов Н. Я., Колупаев А. Н.
Summary:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Рассматривается возможность применения методов сканирующей растровой электронной интроскопии для контроля тонкопленочных покрытий и поверхностных слоев радиокомпонентов и радиосхем. Описана конструкция и принцип работы экспериментальной электронно-лучевой установки для проверки качества токопроводящих покрытий резисторов. Приведены фотографии изображений контролируемых резисторов, полученных с экрана видеоконтрольного устройства ПТУ-26.
Published: 1976
Subjects:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
Online Access:Черно-белая версия для предварительного просмотра
Цветная версия без потери качества
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=240326

Similar Items

Similar Items