Электронно-лучевой контроль качества токопроводящего слоя резисторов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 296 : Неразрушающие методы контроля
| Parent link: | Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 296 : Неразрушающие методы контроля.— 1976.— [С. 137-140] |
|---|---|
| Andre forfattere: | , , , |
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Рассматривается возможность применения методов сканирующей растровой электронной интроскопии для контроля тонкопленочных покрытий и поверхностных слоев радиокомпонентов и радиосхем. Описана конструкция и принцип работы экспериментальной электронно-лучевой установки для проверки качества токопроводящих покрытий резисторов. Приведены фотографии изображений контролируемых резисторов, полученных с экрана видеоконтрольного устройства ПТУ-26. |
| Sprog: | russisk |
| Udgivet: |
1976
|
| Fag: | |
| Online adgang: | Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества |
| Format: | Electronisk Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=240326 |