Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 296 : Неразрушающие методы контроля

Détails bibliographiques
Parent link:Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976
Т. 296 : Неразрушающие методы контроля.— 1976.— [С. 38-41]
Auteur principal: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Autres auteurs: Покровский А. В., Темник А. К. Анатолий Константинович
Résumé:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
В статье показана возможность повышения чувствительности радиометрического метода контроля толстостенных изделий. Рассмотрены возможности понижения уровня шумов регистрирующей аппаратуры. За счет использования многоканальных схем накопления информации и использования гребенчатых фильтров. Данные усовершенствования аппаратуры позволят повысить чувствитель­ность контроля на 30%.
Langue:russe
Publié: 1976
Sujets:
Accès en ligne:Черно-белая версия для предварительного просмотра
Цветная версия без потери качества
Format: Électronique Chapitre de livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=240290

Documents similaires