Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 296 : Неразрушающие методы контроля
| Parent link: | Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 296 : Неразрушающие методы контроля.— 1976.— [С. 38-41] |
|---|---|
| 第一著者: | |
| その他の著者: | , |
| 要約: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации В статье показана возможность повышения чувствительности радиометрического метода контроля толстостенных изделий. Рассмотрены возможности понижения уровня шумов регистрирующей аппаратуры. За счет использования многоканальных схем накопления информации и использования гребенчатых фильтров. Данные усовершенствования аппаратуры позволят повысить чувствительность контроля на 30%. |
| 言語: | ロシア語 |
| 出版事項: |
1976
|
| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества |
| フォーマット: | 電子媒体 図書の章 |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=240290 |