Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 296 : Неразрушающие методы контроля

समान संसाधन

• Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
  द्वारा: Горбунов В. И. Владимир Иванович
  प्रकाशित: (1970)
• Конструкции сцинтилляционных детекторов излучения для бетатронной дефектоскопии; Неразрушающие методы контроля материалов и изделий
  द्वारा: Булаев О. Ф.
  प्रकाशित: (1964)
• Разработка интроскопов повышенной чувствительности; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 296 : Неразрушающие методы контроля
  प्रकाशित: (1976)
• Определение оптимальных размеров сцинтилляционного кристалла в бетатронной дефектоскопии материалов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 138
  प्रकाशित: (1965)
• Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
  द्वारा: Покровский А. В.
  प्रकाशित: (Томск, 1967)