Зайдман С. А., Курындина Н. К., & Свирякин Д. И. (1975). О некоторых особенностях зависимости конденсаторной фотоэдс от электрического поля в системе Si-SiO2; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 280: Неразрушающие методы контроля. 1975.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Зайдман С. А., Курындина Н. К., و Свирякин Д. И. О некоторых особенностях зависимости конденсаторной фотоэдс от электрического поля в системе Si-SiO2; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 280: Неразрушающие методы контроля. 1975, 1975.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Зайдман С. А., et al. О некоторых особенностях зависимости конденсаторной фотоэдс от электрического поля в системе Si-SiO2; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 280: Неразрушающие методы контроля. 1975, 1975.