Исследование помехозащищенности двухканального электромагнитного дефектоскопа; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 280 : Неразрушающие методы контроля
| Parent link: | Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 280 : Неразрушающие методы контроля.— 1975.— [С. 71-74] |
|---|---|
| Auteur principal: | |
| Autres auteurs: | |
| Résumé: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Описывается двухканальный электромагнитный дефектоскоп, предназначенный для контроля протяженных изделий при помощи проходного преобразователя. Отличительной особенностью описываемого прибора является его повышенная помехоустойчивость, обусловленная наличием двух проходных вихретоковых преобразователей, смещенных по оси контроля и логической схемы, позволяющей выделить сигнал от дефекта на выходах измерительных каналов дефектоскопа на фоне различного рода помех. Построены экспериментальные распределения плотности вероятности ложного срабатывания дефектоскопа от воздействующих на него помех. |
| Langue: | russe |
| Publié: |
1975
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества |
| Format: | Électronique Chapitre de livre |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=238323 |
| Description matérielle: | 2 файла (162 Кб, 3.8 Мб) |
|---|---|
| Résumé: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Описывается двухканальный электромагнитный дефектоскоп, предназначенный для контроля протяженных изделий при помощи проходного преобразователя. Отличительной особенностью описываемого прибора является его повышенная помехоустойчивость, обусловленная наличием двух проходных вихретоковых преобразователей, смещенных по оси контроля и логической схемы, позволяющей выделить сигнал от дефекта на выходах измерительных каналов дефектоскопа на фоне различного рода помех. Построены экспериментальные распределения плотности вероятности ложного срабатывания дефектоскопа от воздействующих на него помех. |