|
|
|
|
| LEADER |
00000nla2a2200000 4500 |
| 001 |
236396 |
| 005 |
20251028071618.0 |
| 035 |
|
|
|a (RuTPU)RU\TPU\book\257558
|
| 035 |
|
|
|a RU\TPU\book\257553
|
| 090 |
|
|
|a 236396
|
| 100 |
|
|
|a 20130424d2012 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
|
|a rus
|
| 102 |
|
|
|a RU
|
| 105 |
|
|
|a y z 101zy
|
| 135 |
|
|
|a drcn ---uucaa
|
| 181 |
|
0 |
|a i
|
| 182 |
|
0 |
|a b
|
| 200 |
1 |
|
|a Оптический спектрометр высокочастотного тлеющего разряда PROFILER2 для послойного анализа твердых тел
|f А. С. Залогина, А. Н. Николаева, Р. С. Лаптев
|g науч. рук. Н. С. Пушилина
|d Glow discharge optical emission spectrometer PROFILER2 for depth profiling analysis
|
| 203 |
|
|
|a Текст
|c электронный
|
| 215 |
|
|
|a 1 файл(460 Кб)
|
| 225 |
1 |
|
|a Физика
|
| 300 |
|
|
|a Заглавие с экрана
|
| 320 |
|
|
|a [Библиогр.: с. 112 (6 назв.)]
|
| 330 |
|
|
|a Definition of chemical composition of a product and distribution of elements on surface and in bulk has great importance for many applications. The surface composition determines many important parameters: appearance, corrosion resistance, adhesion, conductivity, etc., while the bulk is important for strength and lifetime of the product. GD-OES is used to solve many real industrial problems. It provides rapid, direct bulk and simultaneous analysis of all elements of interest including carbon, nitrogen, oxygen, hydrogen and chlorine. RF-GD-OES defines both the surface and bulk composition quickly and with high sensitivity to all elements, for almost all solid materials, including metals, metal alloy coatings, semiconductors, polymer coatings, glass, etc. GD-OES is ideal for semiconductor and other high-tech industries.
|
| 337 |
|
|
|a Adobe Reader
|
| 463 |
|
1 |
|0 (RuTPU)RU\TPU\book\256864
|t Перспективы развития фундаментальных наук
|o сборник научных трудов IX Международной конференция студентов и молодых ученых, г. Томск, 24-27 апреля 2012 г.
|f Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ)
|v [С. 110-112]
|l Prospects of fundamental sciences development
|d 2012
|
| 510 |
1 |
|
|a Glow discharge optical emission spectrometer PROFILER2 for depth profiling analysis
|z eng
|
| 610 |
1 |
|
|a электронный ресурс
|
| 610 |
1 |
|
|a труды учёных ТПУ
|
| 610 |
1 |
|
|a оптический спектрометр
|
| 610 |
1 |
|
|a высокочастотный разряд
|
| 610 |
1 |
|
|a тлеющий разряд
|
| 610 |
1 |
|
|a послойные распределения
|
| 610 |
1 |
|
|a твердые тела
|
| 700 |
|
1 |
|a Залогина
|b А. С.
|
| 701 |
|
1 |
|a Николаева
|b А. Н.
|
| 701 |
|
1 |
|a Лаптев
|b Р. С.
|c физик, специалист в области неразрушающего контроля
|c доцент Томского политехнического университета, доктор технических наук
|f 1987-
|g Роман Сергеевич
|y Томск
|3 (RuTPU)RU\TPU\pers\29924
|9 14396
|
| 702 |
|
1 |
|a Пушилина
|b Н. С.
|c физик
|c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук
|f 1984-
|g Наталья Сергеевна
|y Томск
|4 727
|9 12887
|
| 801 |
|
1 |
|a RU
|b 63413507
|c 20101016
|
| 801 |
|
2 |
|a RU
|b 63413507
|c 20131016
|g RCR
|
| 856 |
4 |
|
|u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2012/C21/033.pdf
|
| 942 |
|
|
|c CF
|
