Выбор оптимальных характеристик цифровых рентгеновских микротомографов
| Parent link: | Информационно-измерительная техника и технологии.— 2012.— [С. 12-18] |
|---|---|
| Other Authors: | , , , |
| Summary: | Заглавие с титульного листа Рассмотрены вопросы разработки рентгеновских микротомографов, предложена схема методики разработки, состоящая из трех уровней. Приведены обобщенная схема рентгеновского микротомографа, описан метод рентгеновской томографии пространственной микроструктуры и морфометрии материалов; показана архитектурная блок-схема программного обеспечения для интеллектуальной нейросетевой системы анализа внутренней микроструктуры объектов The problems of the development of X-ray microtomography, the scheme of development methodology, consisting of three levels. Given the X-ray microtomography of a generalized scheme, described a method of X-ray imaging and morphometry of the spatial microstructure of materials; shows the architectural block diagram of software for the intelligent neural system analysis of the internal microstructure of objects |
| Language: | Russian |
| Published: |
2012
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext/c/2012/C18/002.pdf |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=235894 |
| Physical Description: | 1 файл (293 Кб) |
|---|---|
| Summary: | Заглавие с титульного листа Рассмотрены вопросы разработки рентгеновских микротомографов, предложена схема методики разработки, состоящая из трех уровней. Приведены обобщенная схема рентгеновского микротомографа, описан метод рентгеновской томографии пространственной микроструктуры и морфометрии материалов; показана архитектурная блок-схема программного обеспечения для интеллектуальной нейросетевой системы анализа внутренней микроструктуры объектов The problems of the development of X-ray microtomography, the scheme of development methodology, consisting of three levels. Given the X-ray microtomography of a generalized scheme, described a method of X-ray imaging and morphometry of the spatial microstructure of materials; shows the architectural block diagram of software for the intelligent neural system analysis of the internal microstructure of objects |