Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение: пер. с англ.

Podrobná bibliografie
Další autoři: Уэйли Жу (редактор), Жонг Лин Уанг
Shrnutí:Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
Jazyk:ruština
Vydáno: Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013
Témata:
Médium: Kniha
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=232530

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 232530
005 20231101231159.0
010 |a 9785996311101 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\253582 
090 |a 232530 
100 |a 20130214d2013 k y0rusy50 ca 
101 1 |a rus  |c eng 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение  |e пер. с англ.  |f под ред. Уэйли Жу , Жонг Лин Уанга 
210 |a Москва  |c БИНОМ. Лаборатория знаний  |d 2013 
215 |a 582 с.  |c ил. 
320 |a Библиография в конце глав. 
320 |a Словарь аббревиатур: с. 17-18. 
320 |a Предметный указатель: с. 574-582. 
330 |a Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов. 
606 1 |a Нанотехнология  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\51510  |9 70088 
606 1 |a Электронная микроскопия (испытание материалов)  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\20358  |9 45467 
610 1 |a растровая электронная микроскопия 
610 1 |a растровые электронные микроскопы 
610 1 |a устройство 
610 1 |a образцы 
610 1 |a отраженные электроны 
610 1 |a дифракция 
610 1 |a наноматериалы 
610 1 |a рентгеновский микроанализ 
610 1 |a электронно-лучевая нанолитография 
610 1 |a наноструктуры 
610 1 |a просвечивающая электронная микроскопия 
610 1 |a конструирование 
610 1 |a наноманипуляции 
610 1 |a фокусированные ионные пучки 
610 1 |a двухлучевые системы 
610 1 |a нанопроволоки 
610 1 |a углеродные нанотрубки 
610 1 |a фотонные кристаллы 
610 1 |a наночастицы 
610 1 |a коллоидные самосборки 
610 1 |a наноблоки 
610 1 |a бионаноматериалы 
610 1 |a наноструктурные исследования 
675 |a 620.3  |v 3 
675 |a 620.18  |v 3 
702 1 |a Уэйли Жу  |4 340 
702 1 |a Жонг Лин Уанг  |4 340 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20130214 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150602  |g RCR 
942 |c BK 
959 |a 13/20130130  |d 2  |e 0  |f ЧЗТЛ:1  |f АНЛ:1 
959 |a 66/20130405  |d 3  |e 1000,00  |f УФ:3