Оценка чувствительности метода интроскопии быстрыми моноэнергетическими электронами

Détails bibliographiques
Parent link:Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976
Т. 248 : Дефектоскопия.— 1975.— [С. 28-30]
Auteur principal: Бойко В. И. Владимир Ильич
Autres auteurs: Евстигнеев В. В. Владимир Васильевич, Зыков В. М. Владимир Михайлович
Résumé:Заглавие с титульного листа
Электронная версия печатной публикации
Publié: 1975
Sujets:
Accès en ligne:Черно-белая версия для предварительного просмотра
Цветная версия без потери качества
Format: Électronique Chapitre de livre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=229504

Documents similaires