Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики: учебное пособие
| Autor principal: | |
|---|---|
| Autor Corporativo: | |
| Resumo: | Заглавие с титульного экрана Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 "Физика конденсированного состояния вещества". Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ |
| Idioma: | russo |
| Publicado em: |
Томск, Изд-во ТПУ, 2012
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2012/m451.pdf |
| Formato: | Recurso Electrónico Livro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=228522 |
MARC
| LEADER | 00000nlm0a2200000 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 228522 | ||
| 005 | 20231101230901.0 | ||
| 035 | |a (RuTPU)RU\TPU\book\248997 | ||
| 090 | |a 228522 | ||
| 100 | |a 20121219d2012 m y0rusy50 ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a a j 001zy | ||
| 135 | |a drcn ---uucaa | ||
| 181 | 0 | |a i | |
| 182 | 0 | |a b | |
| 200 | 1 | |a Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики |b Электронный ресурс |e учебное пособие |f Н. Н. Никитенков |g Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ), Физико-технический институт (ФТИ), Кафедра общей физики (ОФ) | |
| 203 | |a Текст |c электронный | ||
| 210 | |a Томск |c Изд-во ТПУ |d 2012 | ||
| 230 | |a 1 компьютерный файл (pdf; 4.8 MB) | ||
| 300 | |a Заглавие с титульного экрана | ||
| 330 | |a Пособие посвящено экспериментальным особенностям и теоретическим вопросам анализа свойств поверхности твердых тел и тонких пленок. Рассмотрены механизмы физических явлений, лежащих в основе эмиссионных процессов, при возбуждении поверхности электронными и ионными пучками, температурой и электростатическими полями большой напряженности. Описаны принципы функционирования узлов высоковакуумных аналитических установок (оптика заряженных частиц, энергоанализаторы, масс-анализаторы, электронные и ионные пушки, детекторы частиц и излучений). Предназначено для бакалавров и магистрантов, обучающихся по специальности 01.04.07 "Физика конденсированного состояния вещества". | ||
| 333 | |a Режим доступа: из корпоративной сети ТПУ | ||
| 337 | |a Adobe Reader | ||
| 606 | 1 | |a Поверхности твердых тел |x Исследование |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\67662 |9 83383 | |
| 610 | 1 | |a электронный ресурс | |
| 610 | 1 | |a труды учёных ТПУ | |
| 610 | 1 | |a учебные пособия | |
| 610 | 1 | |a поверхность | |
| 610 | 1 | |a диагностика | |
| 610 | 1 | |a явления | |
| 610 | 1 | |a исследования | |
| 610 | 1 | |a электронная эмиссия | |
| 610 | 1 | |a ионная эмиссия | |
| 610 | 1 | |a ионная спектроскопия | |
| 610 | 1 | |a поверхности | |
| 610 | 1 | |a электронная спектроскопия | |
| 610 | 1 | |a структурный анализ | |
| 610 | 1 | |a дифракция | |
| 610 | 1 | |a сканирующая зондовая микроскопия | |
| 610 | 1 | |a рентгеновское излучение | |
| 610 | 1 | |a строение | |
| 675 | |a 539.211(075.8) |v 3 | ||
| 700 | 1 | |a Никитенков |b Н. Н. |c российский физик |c профессор Томского политехнического университета, доктор физико-математических наук |f 1953- |g Николай Николаевич |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\25364 | |
| 712 | 0 | 2 | |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет (ТПУ) |b Физико-технический институт (ФТИ) |b Кафедра общей физики (ОФ) |h 136 |2 stltpush |3 (RuTPU)RU\TPU\col\18734 |
| 801 | 1 | |a RU |b 63413507 |c 20121219 | |
| 801 | 2 | |a RU |b 63413507 |c 20150924 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u http://www.lib.tpu.ru/fulltext2/m/2012/m451.pdf | |
| 942 | |c CF | ||