О распределении пробивного напряжения изоляции эмальпроводов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 222 : Электрическая изоляция и электроизоляционные материалы

Մատենագիտական մանրամասներ
Parent link:	Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 222 : Электрическая изоляция и электроизоляционные материалы.— 1975.— [С. 66-69]
Հիմնական հեղինակ:	Похолков Ю. П. Юрий Петрович
Ամփոփում:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Анализ результатов испытаний на пробой большой выборки образцов эмальпровода ПЭТВ диаметром 1,08 мм показывает, что формирование вида распределения обусловлено наличием различного типа дефектов. С точки зрения формирования распределения пробивного напряжения дефекты в эмальизоляции могут быть разделены на две группы: микродефекты и макродефекты, представляющие собой грубые механические повреждения изоляции. Показано, что распределение пробивного напряжения изоляции исследуемых эмальпроводов описывается суперпозицией двух законов: закона Вейбулла (правая часть распределения) и нормального закона (левая часть распределения).
Լեզու:	ռուսերեն
Հրապարակվել է:	1975
Խորագրեր:	электронный ресурс труды учёных ТПУ
Առցանց հասանելիություն:	Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества
Ձևաչափ:	Էլեկտրոնային Գրքի գլուխ
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=225997

MARC


LEADER	00000nla2a2200000 4500
001	225997
005	20240914063139.0
035			\|a (RuTPU)RU\TPU\book\246363
035			\|a RU\TPU\book\246358
090			\|a 225997
100			\|a 20121116d1975 k y0rusy50 ca
101	0		\|a rus
102			\|a RU
135			\|a drnn ---uucaa
181		0	\|a i
182		0	\|a b
200	1		\|a О распределении пробивного напряжения изоляции эмальпроводов \|f Ю. П. Похолков
203			\|a Текст \|c электронный
215			\|a 2 файла (175 Кб, 5.7 Мб)
300			\|a Заглавие с титульного листа
300			\|a Электронная версия печатной публикации
320			\|a [Библиогр.: с. 69 (6 назв.)]
330			\|a Анализ результатов испытаний на пробой большой выборки образцов эмальпровода ПЭТВ диаметром 1,08 мм показывает, что формирование вида распределения обусловлено наличием различного типа дефектов. С точки зрения формирования распределения пробивного напряжения дефекты в эмальизоляции могут быть разделены на две группы: микродефекты и макродефекты, представляющие собой грубые механические повреждения изоляции. Показано, что распределение пробивного напряжения изоляции исследуемых эмальпроводов описывается суперпозицией двух законов: закона Вейбулла (правая часть распределения) и нормального закона (левая часть распределения).
337			\|a Adobe Reader
461		1	\|0 (RuTPU)RU\TPU\book\200995 \|t Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ] \|f Томский политехнический институт (ТПИ) \|d 1944-1976
463		1	\|0 (RuTPU)RU\TPU\book\246327 \|t Т. 222 : Электрическая изоляция и электроизоляционные материалы \|v [С. 66-69] \|d 1975 \|p 80 с.
610	1		\|a электронный ресурс
610	1		\|a труды учёных ТПУ
675			\|a 621.315.3.537 \|v 3
700		1	\|a Похолков \|b Ю. П. \|c специалист в области электротехники, доктор технических наук \|c ректор Томского политехнического университета (1990-2008), профессор \|f 1939- \|g Юрий Петрович \|x TPU \|y Томск \|3 (RuTPU)RU\TPU\pers\10508 \|9 2235
801		1	\|a RU \|b 63413507 \|c 20090320 \|g PSBO
801		2	\|a RU \|b 63413507 \|c 20130219 \|g PSBO
856	4		\|u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/1975/v222/14_bw.pdf \|z Черно-белая версия для предварительного просмотра
856	4		\|u http://www.lib.tpu.ru/fulltext/v/Bulletin_TPU/1975/v222/14_full.pdf \|z Цветная версия без потери качества
942			\|c CF

MARC

Նմանատիպ նյութեր