О распределении пробивного напряжения изоляции эмальпроводов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 222 : Электрическая изоляция и электроизоляционные материалы
| Parent link: | Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 222 : Электрическая изоляция и электроизоляционные материалы.— 1975.— [С. 66-69] |
|---|---|
| Main Author: | |
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Анализ результатов испытаний на пробой большой выборки образцов эмальпровода ПЭТВ диаметром 1,08 мм показывает, что формирование вида распределения обусловлено наличием различного типа дефектов. С точки зрения формирования распределения пробивного напряжения дефекты в эмальизоляции могут быть разделены на две группы: микродефекты и макродефекты, представляющие собой грубые механические повреждения изоляции. Показано, что распределение пробивного напряжения изоляции исследуемых эмальпроводов описывается суперпозицией двух законов: закона Вейбулла (правая часть распределения) и нормального закона (левая часть распределения). |
| Language: | Russian |
| Published: |
1975
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества |
| Format: | Electronic Book Chapter |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=225997 |
| Physical Description: | 2 файла (175 Кб, 5.7 Мб) |
|---|---|
| Summary: | Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации Анализ результатов испытаний на пробой большой выборки образцов эмальпровода ПЭТВ диаметром 1,08 мм показывает, что формирование вида распределения обусловлено наличием различного типа дефектов. С точки зрения формирования распределения пробивного напряжения дефекты в эмальизоляции могут быть разделены на две группы: микродефекты и макродефекты, представляющие собой грубые механические повреждения изоляции. Показано, что распределение пробивного напряжения изоляции исследуемых эмальпроводов описывается суперпозицией двух законов: закона Вейбулла (правая часть распределения) и нормального закона (левая часть распределения). |