Инженерные основы измерений нанометровой точности пер. с англ.

Инженерные основы измерений нанометровой точности, пер. с англ.

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Лич Р. К. Ричард К.
الملخص:	Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.
اللغة:	الروسية
منشور في:	Долгопрудный, Интеллект, 2012
الموضوعات:	инженерная нанометрология измерения точность неопределенность лазеры прецизионные средства интерферометрия длина перемещения измерение поверхности поверхностный рельеф оптические профилометры сканирующая микроскопия атомно-силовая микроскопия электронная микроскопия целые изображения параметры координатная метрология силы массы макрообъекты координатно-измерительные машины
التنسيق:	كتاب
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=223304

مواد مشابهة

Нанометрология
حسب: Сергеев А. Г. Александр Григорьевич
منشور في: (Москва, Логос, 2011)

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
حسب: Миронов В. Л. Виктор Леонидович
منشور في: (Нижний Новгород, ИФМ РАН, 2004)

Fundamental Principles of Engineering Nanometrology
حسب: Leach R. K. Richard
منشور في: (Amsterdam, Elsevier, 2010)

Метрология и фундаментальные физические константы [монография]
حسب: Кононогов С. А. Сергей Алексеевич
منشور في: (Москва, Стандартинформ, 2008)

Мезомеханика поведения тонких пленок Cu на подложке при одноосном растяжении и термическом отжиге. Многоуровневый подход
منشور في: (2005)

Т. 2
منشور في: (2010)

Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
منشور في: (Москва, Научный мир, 2011)

Scanning Electron Microscopy Study of Drilling Cuttings in Tomsk Oblast Sites
منشور في: (2019)

Surface Layer Modification of 12Cr1MoV and 30CrMnSiNi2 Steels by Zr+ Ion Beam to Improve the Fatigue Durability
منشور في: (2015)

Метрология учебник
منشور في: (Москва, Форум, 2009)

Метрология учебник
منشور في: (Москва, Форум, 2011)

Research of reactive ion and plasma-chemical etching effect on diamond coating surface morphology
حسب: Okhotnikov V. V. Vitaly Vladimirovich
منشور في: (2016)

Mechanical Strength of Additive Manufactured Carbon Fiber Reinforced Polyetheretherketone
منشور في: (2016)

Analysis of Magnetron-Deposited Titanium Oxynitride Coatings by Scanning Electron Microscopy and Raman Scattering
منشور في: (2015)

Фотолюминесценция полупроводниковых гетероструктур ALGAN / INGAN / GANс возбуждением импульсной Хе-лампой
حسب: Сычева А. В.
منشور في: (2016)

Зондовые методы диагностики структуры и свойств наноматериалов электронный курс
حسب: Панина А. А. Александра Анатольевна
منشور في: (Томск, TPU Moodle, 2017)

Laws of Plastic Deformation Localization of Aluminum Monocrystals at Different Scale Structural Levels
منشور في: (2016)

Особенности применения автодинных КВЧ модулей для сканирующей зондовой микроволновой микроскопии
حسب: Трубачев А. А. Анатолий Андреевич
منشور في: (2012)

Strain Localization of Commercially Pure Titanium Subjected to Ultrasonic Impact Treatment Followed by Uniaxial Tension
منشور في: (2016)

Анализ топографии поверхности оксинитридных покрытий титана методом атомной силовой микроскопии
حسب: Арышева Г. В. Галина Владиславовна
منشور في: (2014)

Composite fluoropolymer piezoelectric membranes for reconstructive surgery
منشور في: (2020)

Plastic strain arrangement in copper single crystals in sliding
حسب: Chumaevsky A. V. Andrey Valerjevich
منشور في: (2014)

Визуализация локализованной деформации при трении
حسب: Тарасов С. Ю. Сергей Юльевич
منشور في: (2005)

Экспериментальные методы в исследовании конденсированного состояния (03.03.02) электронный курс
حسب: Панин А. В. Алексей Викторович
منشور في: (Томск, TPU Moodle, 2024)

Исследование реакции тромбоцитов на a-C:H:SiOx покрытие, полученное методом плазмохимического осаждения с использованием импульсного биполярного смещения
منشور في: (2020)

Книга 2
منشور في: (1990)

Сканирующая туннельная микроскопии структуры покрытий с наночастицами карбонитридов титана и их свойства
منشور في: (2017)

Содержание нуклеиновых кислот в адгезирующих Т-лимфобластах линии Jurkat и их подвижность in vitro
منشور في: (2021)

Сборник сравнительных таблиц русских, метрических и английских мер, применительно к горному делу
منشور في: (Ленинград, Издание геологического комитета, 1928)

Теория измерений для инженеров пер. с пол.
حسب: Пиотровский Я. Януш
منشور في: (Москва, Мир, 1989)

Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
منشور في: (Москва, Наука, 2006)

Structure Fragmentation of a Surface Layer of Commercial Purity Titanium During Ultrasonic Impact Treatment
منشور في: (2015)

Features of the Ti-40Nb Alloy Prototype Formation by 3D Additive Method
منشور في: (2016)

Наноматериалы, наноструктуры, нанотехнологии
حسب: Гусев А. И. Александр Иванович
منشور في: (Москва, Физматлит, 2009)

Optical and AFM studies on p-SNS thin films deposited by magnetron sputtering
حسب: An V. V. Vladimir Vilorievich
منشور في: (2015)

Особенности влияния ионного азотирования на структуру, прочностные свойства и механизм разрушения аустенитной стали с субмикрокристаллической структурой
منشور في: (2016)

Plasma dynamic synthesis of ultradispersed zinc oxide and sintering ceramics on its basis by SPS method
منشور في: (2017)

Нанобиотехнологии практикум
منشور في: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2012)

Автоматизация в метрологическом обеспечении производства
حسب: Плиско В. А. Валерий Антонович
منشور في: (Москва, Изд-во стандартов, 1988)

Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие
حسب: Миронов В. Л.
منشور في: (Москва, Техносфера, 2004)