Инженерные основы измерений нанометровой точности, пер. с англ.

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Лич Р. К. Ричард К.
Samenvatting:Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.
Taal:Russisch
Gepubliceerd in: Долгопрудный, Интеллект, 2012
Onderwerpen:
Formaat: Boek
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=223304

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 4500
001 223304
005 20231101230521.0
010 |a 9785915591195 
035 |a (RuTPU)RU\TPU\book\243546 
090 |a 223304 
100 |a 20121009d2012 km y0rusy50 ca 
101 1 |a rus  |c eng 
102 |a RU 
105 |a a z 001zy 
200 1 |a Инженерные основы измерений нанометровой точности  |e пер. с англ.  |f Р. К. Лич 
210 |a Долгопрудный  |c Интеллект  |d 2012 
215 |a 400 с.  |c ил. 
320 |a Библиография в конце глав. 
330 |a Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей. 
606 1 |a Метрология  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\subj\43497  |9 62988 
610 1 |a инженерная нанометрология 
610 1 |a измерения 
610 1 |a точность 
610 1 |a неопределенность 
610 1 |a лазеры 
610 1 |a прецизионные средства 
610 1 |a интерферометрия 
610 1 |a длина 
610 1 |a перемещения 
610 1 |a измерение 
610 1 |a поверхности 
610 1 |a поверхностный рельеф 
610 1 |a оптические профилометры 
610 1 |a сканирующая микроскопия 
610 1 |a атомно-силовая микроскопия 
610 1 |a электронная микроскопия 
610 1 |a целые изображения 
610 1 |a параметры 
610 1 |a координатная метрология 
610 1 |a силы 
610 1 |a массы 
610 1 |a макрообъекты 
610 1 |a координатно-измерительные машины 
675 |a 006  |v 4 
700 1 |a Лич  |b Р. К.  |g Ричард К. 
801 1 |a RU  |b 63413507  |c 20121009 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20150428  |g RCR 
900 |a Метрология, стандартизация и сертификация 
942 |c BK 
959 |a 128/20121009  |d 5  |e 1210,00  |f ЧЗТЛ:1  |f АНЛ:1  |f УФ:3