Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени, учебное пособие
| Автор: | Зевайль А. Ахмед |
|---|---|
| Інші автори: | Томас Дж. Джон |
| Резюме: | Книга написана двумя признанными авторитетами в области физической химии и биологии — проф. Ахмедом Зевайлем из Калифорнийского Технологического Института и проф. Джоном Томасом из Оксфордского Университета. Учебное пособие посвящено последним достижениям в электронной микроскопии, которые позволяют современным ученым проводить наблюдения субнанометровых объектов и химических реакций не просто в 3D пространстве, но ещё и в динамике, фиксируя в реальном времени сам процесс перемещения атомов и их взаимодействия друг с другом. Рассмотрены физические принципы, позволяющие проводить прямое наблюдение органических и неорганических объектов на атомарном масштабе и их поведения в ультракоротких временных диапазонах. На конкретных примерах рассмотрены возможности визуализации объектов с использованием как отдельных методов электронной микроскопии, так и их сочетания, что в свою очередь существенно повышает информативность и дос товерность получаемых данных. Основная идея авторов — показать, что электронная микроскопия микро- и наномира, даже в самых, казалось бы, фантастических задачах и исследованиях, не ограничивается более лишь статичной картинкой, позволяя ученым заглянуть гораздо глубже, как в пространственных масштабах, так и в динамике. Книга будет чрезвычайно полезной и интересной для всех специалистов и, в том числе, для студентов, чьи профессиональные интересы так или иначе связаны с панотехнологиями. |
| Опубліковано: |
Долгопрудный, Интеллект, 2013
|
| Предмети: | |
| Формат: | Книга |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=223296 |
Схожі ресурси
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию пер. с англ.
за авторством: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2010)
за авторством: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2010)
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов пер. с англ.
за авторством: Фульц Б. Брент
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2011)
за авторством: Фульц Б. Брент
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2011)
Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов [учебное пособие]
за авторством: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Опубліковано: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)
за авторством: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Опубліковано: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983)
Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89) Звенигород, апрель 1989 г.
Опубліковано: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)
Опубліковано: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989)
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения учебное пособие
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2009)
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2009)
Электронная микроскопия
Опубліковано: (Москва, Гостехиздат, 1954)
Опубліковано: (Москва, Гостехиздат, 1954)
Bildinterpretation in der Hochauflosungs-Elektronenmikroskopie
Опубліковано: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)
Опубліковано: (Berlin, Akademie-Verlag, 1984)
Кн. 1
Опубліковано: (1984)
Опубліковано: (1984)
Методика электронной микроскопии пер. с нем.
за авторством: Шиммель Г. Герхард
Опубліковано: (Москва, Мир, 1972)
за авторством: Шиммель Г. Герхард
Опубліковано: (Москва, Мир, 1972)
Просвечивающая электронная микроскопия
за авторством: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Опубліковано: (Киев, Наукова думка, 1975)
за авторством: Пилянкевич А. Н. Александр Николаевич
Опубліковано: (Киев, Наукова думка, 1975)
Тезисы докладов IV Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел - "РЭМ-84", апрель 1984 г., г. Звенигород
Опубліковано: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
Опубліковано: (Москва, Изд-во МГУ, 1984)
Применение электронной микроскопии в современной технике тезисы докладов симпозиума
Опубліковано: (Москва, [Б. и.], 1978)
Опубліковано: (Москва, [Б. и.], 1978)
Кн. 2
Опубліковано: (1984)
Опубліковано: (1984)
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия пер. с англ.
за авторством: Синдо Д Дайзуке
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2006)
за авторством: Синдо Д Дайзуке
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2006)
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения пер. с англ.
за авторством: Спенс Дж. Джон
Опубліковано: (Москва, Наука, 1986)
за авторством: Спенс Дж. Джон
Опубліковано: (Москва, Наука, 1986)
Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
за авторством: Ищенко А. А.
Опубліковано: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
за авторством: Ищенко А. А.
Опубліковано: (Москва, РТУ МИРЭА, 2021)
Микроскопические методы исследования материалов пер. с англ.
за авторством: Кларк Э. Р. Эшли Р.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2007)
за авторством: Кларк Э. Р. Эшли Р.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2007)
Электронная оптика и электронная микроскопия пер. с англ.
за авторством: Хокс П.
Опубліковано: (Москва, Мир, 1974)
за авторством: Хокс П.
Опубліковано: (Москва, Мир, 1974)
Растровая электронная микроскопия учебное пособие
за авторством: Сахаров Н. В.
Опубліковано: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2020)
за авторством: Сахаров Н. В.
Опубліковано: (Нижний Новгород, ННГУ им. Н. И. Лобачевского, 2020)
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение пер. с англ.
Опубліковано: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)
Опубліковано: (Москва, БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013)
Микроскопические методы исследования материалов
за авторством: Кларк Э. Р.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2007)
за авторством: Кларк Э. Р.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2007)
Электронная микроскопия в металловедении справочник
Опубліковано: (Москва, Металлургия, 1985)
Опубліковано: (Москва, Металлургия, 1985)
Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии пер. с англ.
за авторством: Рид С. Дж. Б.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2008)
за авторством: Рид С. Дж. Б.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2008)
Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
Опубліковано: (Москва, Научный мир, 2011)
Опубліковано: (Москва, Научный мир, 2011)
Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
Опубліковано: (Москва, Наука, 2006)
Опубліковано: (Москва, Наука, 2006)
Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей
за авторством: Егорова О. В. Ольга Владимировна
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2007)
за авторством: Егорова О. В. Ольга Владимировна
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2007)
Основы просвечивающей электронной микроскопии пер. с англ.
за авторством: Хейденрайх Р.
Опубліковано: (Москва, Мир, 1966)
за авторством: Хейденрайх Р.
Опубліковано: (Москва, Мир, 1966)
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля пер. с англ.
за авторством: Брандон Д.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2006)
за авторством: Брандон Д.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2006)
Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ
за авторством: Пилюгин С. М.
Опубліковано: (Воронеж, ВГУ, 2019)
за авторством: Пилюгин С. М.
Опубліковано: (Воронеж, ВГУ, 2019)
Современная электронная микроскопия в исследовании вещества
Опубліковано: (Москва, Наука, 1982)
Опубліковано: (Москва, Наука, 1982)
Компьютерная микроскопия
за авторством: Пантелеев В. Г.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2005)
за авторством: Пантелеев В. Г.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2005)
Основы электронной микроскопии учебное пособие для вузов
за авторством: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Опубліковано: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)
за авторством: Бушнев Л. С. Лев Сергеевич
Опубліковано: (Томск, Изд-во Том. ун-та, 1990)
Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии: методические указания
Опубліковано: (Казань, КНИТУ, 2018)
Опубліковано: (Казань, КНИТУ, 2018)
Электронная микроскопия в минералогии пер. с англ.
Опубліковано: (Москва, Мир, 1979)
Опубліковано: (Москва, Мир, 1979)
Static Fracture Behavior of Ultrasonic Impact Post-Built treated SLM-manufactured Ti-6Al-4V
Опубліковано: (2019)
Опубліковано: (2019)
Электронная микроскопия в клинической ветеринарии учебное пособие
за авторством: Сахно Н. В.
Опубліковано: (Санкт-Петербург, Лань, 2020)
за авторством: Сахно Н. В.
Опубліковано: (Санкт-Петербург, Лань, 2020)
Просвечивающая электронная микроскопия материалов пер. с англ.
за авторством: Томас Г. Гарет
Опубліковано: (Москва, Наука, 1983)
за авторством: Томас Г. Гарет
Опубліковано: (Москва, Наука, 1983)
Fatigue behaviour of CG and UFG titanium: DIC and fractography studies
за авторством: Eremin A. V. Alexandr Vyacheslavovich
Опубліковано: (2019)
за авторством: Eremin A. V. Alexandr Vyacheslavovich
Опубліковано: (2019)
Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
за авторством: Миронов С. Ю.
Опубліковано: (Белгород, НИУ БелГУ, 2023)
за авторством: Миронов С. Ю.
Опубліковано: (Белгород, НИУ БелГУ, 2023)
Развитие метода электронной микроскопии для изучения стехиометрических процессов с участием соединений переходных металлов и каталитических реакций тонкого органического синтеза в однородных и структурированных жидких средах автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора химических наук спец. 1.4.14
за авторством: Кашин А. С. Алексей Сергеевич
Опубліковано: (Москва, 2024)
за авторством: Кашин А. С. Алексей Сергеевич
Опубліковано: (Москва, 2024)
Схожі ресурси
-
Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую электронную микроскопию пер. с англ.
за авторством: Эгертон Р. Ф. Рэй Ф.
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2010) -
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов пер. с англ.
за авторством: Фульц Б. Брент
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2011) -
Введение в просвечивающую электронную микроскопию твердых тел и биологических объектов [учебное пособие]
за авторством: Хатанова Н. А. Нина Абдуловна
Опубліковано: (Москва, Изд-во Московского ун-та, 1983) -
Тезисы докладов VI Всесоюзного симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ-89) Звенигород, апрель 1989 г.
Опубліковано: (Звенигород, Изд-во АН СССР, 1989) -
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения учебное пособие
Опубліковано: (Москва, Техносфера, 2009)