Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184

Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184

Manylion Llyfryddiaeth
Parent link:	Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 184.— 1970.— [С. 136-139]
Prif Awdur:	Горбунов В. И. Владимир Иванович
Awduron Eraill:	Покровский А. В., Темник А. К. Анатолий Константинович
Crynodeb:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации
Iaith:	Rwseg
Cyhoeddwyd:	1970
Pynciau:	электронный ресурс труды учёных ТПУ
Mynediad Ar-lein:	Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества
Fformat:	Electronig Pennod Llyfr
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=218886

Eitemau Tebyg

Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 296 : Неразрушающие методы контроля
gan: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Cyhoeddwyd: (1976)

Определение оптимальных размеров сцинтилляционного кристалла в бетатронной дефектоскопии материалов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 138
Cyhoeddwyd: (1965)

Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии; Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г.
gan: Горбунов В. И.
Cyhoeddwyd: (1962)

Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
gan: Покровский А. В.
Cyhoeddwyd: (Томск, 1967)

Разработка схем регистрации для сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
Cyhoeddwyd: (1966)

Исследование фактора накопления для выбора диапазона энергии в бетатронной дефектоскопии; Электронные ускорители
gan: Горбунов В. И.
Cyhoeddwyd: (1966)

О дефектоскопии и толщинометрии материалов электронным пучком; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Кононов Б. А. Борис Александрович
Cyhoeddwyd: (1970)

Исследование чувствительности радиационной дефектоскопии неоднородных многокомпонентных материалов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 139
gan: Воробьев В. А.
Cyhoeddwyd: (1965)

Сцинтилляционный метод в бетатронной дефектоскопии сварных толстостенных изделий; Электронные ускорители
Cyhoeddwyd: (1966)

Устройство для защиты приемника излучения при бетатронной дефектоскопии движущихся изделий; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 280 : Неразрушающие методы контроля
gan: Григорьев А. П.
Cyhoeddwyd: (1975)

Пути повышения чувствительности метода амальгамной полярографии с накоплением; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 164 : Исследования в области амальгамной полярографии с накоплением
gan: Каплин А. А. Анатолий Александрович
Cyhoeddwyd: (1967)

Исследование сцинтилляционного метода изотопной дефектоскопии материалов и изделий: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
gan: Кулешов В.
Cyhoeddwyd: (Томск, [Б. и.], 1966)

Некоторые вопросы оптимизации основных параметров радиометрических систем бетатронной дефектоскопии: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
gan: Темник А. К.
Cyhoeddwyd: (Томск, 1968)

Некоторые вопросы повышения чувствительности метода АПН с использованием пленочного электрода; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 164 : Исследования в области амальгамной полярографии с накоплением
gan: Каплин А. А. Анатолий Александрович
Cyhoeddwyd: (1967)

К выбору оптимальных размеров сцинтилляционных кристаллов в бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 199 : Химические реакции с участием твердых веществ
gan: Воробьев В. А. Владимир Александрович
Cyhoeddwyd: (1969)

К вопросу о бетатронной стереографии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 213
gan: Браславский Г. Д.
Cyhoeddwyd: (1972)

Статистический анализ процесса переноса информации при радиометрическом методе бетатронной дефектоскопии: [оттиск статьи]
Cyhoeddwyd: ([Berlin], [Б. и.], 1970)

Некоторые итоги работы бетатронной лаборатории Томского медицинского института; Электронные ускорители
gan: Гарганеев Г. П.
Cyhoeddwyd: (1961)

Использование нейтронного дефектоскопа для повышения чувствительности при автоматическом измерении влажности; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 248 : Дефектоскопия
gan: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Cyhoeddwyd: (1975)

Дальнейшее развитие сцинтилляционного метода изотопной дефектоскопии материалов и изделий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
gan: Горбунов В. И.
Cyhoeddwyd: (1966)

Конструкции сцинтилляционных детекторов излучения для бетатронной дефектоскопии; Неразрушающие методы контроля материалов и изделий
gan: Булаев О. Ф.
Cyhoeddwyd: (1964)

Пути повышения чувствительности метода амальгамной полярографии с накоплением; Применение полярографии в химии и технологии полимеров
Cyhoeddwyd: (1966)

Оценка чувствительности метода интроскопии быстрыми моноэнергетическими электронами; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 248 : Дефектоскопия
gan: Бойко В. И. Владимир Ильич
Cyhoeddwyd: (1975)

Пути повышения чувствительности феррозондовых преобразователей; Измерение, контроль, информатизация; Т. 1
gan: Баранова В. Е. Виталия Евгеньевна
Cyhoeddwyd: (2015)

Симметричные калиброванные ослабители; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Студеникин В. Н.
Cyhoeddwyd: (1970)

Выбор оптимальных параметров электродиализа; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Тихомиров И. А. Иван Арсентьевич
Cyhoeddwyd: (1970)

Магнитная система авторезонансного ускорителя; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Ишков А. П.
Cyhoeddwyd: (1970)

Теоретическое исследование чувствительности радиационной дефектоскопии неоднородных многокомпонентных материалов; Дефектоскопия; № 3
gan: Воробьев В. А. Владимир Александрович
Cyhoeddwyd: (1966)

Применение ультразвука для повышения чувствительности метода амальгамной полярографии с накоплением: [отдельный оттиск]
gan: Спирин Э. К. Эдуард Константинович
Cyhoeddwyd: (Москва, Изд-во АН СССР, 1965)

Топологический анализ чувствительности передачи; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 208
gan: Наумов Л. А.
Cyhoeddwyd: (1974)

К расчету потерянной электронами энергии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Дергобузов К. А.
Cyhoeddwyd: (1970)

Пути повышения частоты ударов ручных бурильных молотков; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 108 : Исследование бурильных машин
gan: Горбунов В. Ф. Валерий Федорович
Cyhoeddwyd: (1959)

Бетатроны НИИ ЭИ для промышленной дефектоскопии и медицины; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 279 : Бетатроны
gan: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Cyhoeddwyd: (1974)

Пути повышения чувствительности вольтамперных методов с накоплением; Известия Сибирского отделения АН СССР. Серия химическая; Вып. 9, № 4
gan: Стромберг А. Г. Армин Генрихович
Cyhoeddwyd: (1978)

Шестипараметрическое семейство коник в P3; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Матвеенко В. И. Василий Иванович
Cyhoeddwyd: (1970)

Дифференциальная геометрия семейства K(2,6); Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Матвеенко В. И. Василий Иванович
Cyhoeddwyd: (1970)

Отождествление расшифрованной колебательной структуры двухатомных молекул; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
gan: Коваленок Г. В. Галина Васильевна
Cyhoeddwyd: (1970)

К вопросу о выборе оптимальных размеров сцинтилляторов для дефектоскопии изделий; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 138
gan: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Cyhoeddwyd: (1965)

Разрешающая способность сцинтилляционного метода интроскопии быстрыми электронами [К расчету электронного интроскопа]; Дефектоскопия; № 1
Cyhoeddwyd: (1973)

Пути повышения чувствительности и разрешающей способности метода АПН; Тезисы докладов совещания по аналитической химии полупроводниковых веществ (11-15 ноября 1965 г.)
Cyhoeddwyd: (1965)