Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184

Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:	Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]/ Томский политехнический институт (ТПИ).— , 1944-1976 Т. 184.— 1970.— [С. 136-139]
Egile nagusia:	Горбунов В. И. Владимир Иванович
Beste egile batzuk:	Покровский А. В., Темник А. К. Анатолий Константинович
Gaia:	Заглавие с титульного листа Электронная версия печатной публикации
Hizkuntza:	errusiera
Argitaratua:	1970
Gaiak:	электронный ресурс труды учёных ТПУ
Sarrera elektronikoa:	Черно-белая версия для предварительного просмотра Цветная версия без потери качества
Formatua:	Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=218886

Antzeko izenburuak

Некоторые пути повышения чувствительности сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 296 : Неразрушающие методы контроля
nork: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Argitaratua: (1976)

Разработка схем регистрации для сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
Argitaratua: (1966)

Определение оптимальных размеров сцинтилляционного кристалла в бетатронной дефектоскопии материалов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 138
Argitaratua: (1965)

Теоретический расчет чувствительности фотографического метода бетатронной дефектоскопии; Тезисы докладов на IV межвузовской научной конференции по электронным ускорителям 13-17 февраля 1962 г.
nork: Горбунов В. И.
Argitaratua: (1962)

Исследование сцинтилляционного метода бетатронной дефектоскопии и его применение для контроля толстостенных сварных соединений: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
nork: Покровский А. В.
Argitaratua: (Томск, 1967)

Дальнейшее развитие сцинтилляционного метода изотопной дефектоскопии материалов и изделий; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
nork: Горбунов В. И.
Argitaratua: (1966)

Исследование фактора накопления для выбора диапазона энергии в бетатронной дефектоскопии; Электронные ускорители
nork: Горбунов В. И.
Argitaratua: (1966)

О дефектоскопии и толщинометрии материалов электронным пучком; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Кононов Б. А. Борис Александрович
Argitaratua: (1970)

Исследование чувствительности радиационной дефектоскопии неоднородных многокомпонентных материалов; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 139
nork: Воробьев В. А.
Argitaratua: (1965)

Пути повышения чувствительности метода амальгамной полярографии с накоплением; Применение полярографии в химии и технологии полимеров
Argitaratua: (1966)

Сцинтилляционный метод в бетатронной дефектоскопии сварных толстостенных изделий; Электронные ускорители
Argitaratua: (1966)

Пути повышения чувствительности метода амальгамной полярографии с накоплением; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 164 : Исследования в области амальгамной полярографии с накоплением
nork: Каплин А. А. Анатолий Александрович
Argitaratua: (1967)

Устройство для защиты приемника излучения при бетатронной дефектоскопии движущихся изделий; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 280 : Неразрушающие методы контроля
nork: Григорьев А. П.
Argitaratua: (1975)

Пути повышения чувствительности феррозондовых преобразователей; Измерение, контроль, информатизация; Т. 1
nork: Баранова В. Е. Виталия Евгеньевна
Argitaratua: (2015)

Пути повышения чувствительности и разрешающей способности метода АПН; Тезисы докладов совещания по аналитической химии полупроводниковых веществ (11-15 ноября 1965 г.)
Argitaratua: (1965)

К вопросу о бетатронной стереографии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 213
nork: Браславский Г. Д.
Argitaratua: (1972)

Пути повышения чувствительности метода амальгамной полярографии с накоплением; Рефераты докладов на седьмой конференции работников заводских и производственных лабораторий Казахстана и Средней Азии
nork: Стромберг А. Г. Армин Генрихович
Argitaratua: (1964)

Использование нейтронного дефектоскопа для повышения чувствительности при автоматическом измерении влажности; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 248 : Дефектоскопия
nork: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Argitaratua: (1975)

Некоторые вопросы повышения чувствительности метода АПН с использованием пленочного электрода; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 164 : Исследования в области амальгамной полярографии с накоплением
nork: Каплин А. А. Анатолий Александрович
Argitaratua: (1967)

К выбору оптимальных размеров сцинтилляционных кристаллов в бетатронной дефектоскопии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 199 : Химические реакции с участием твердых веществ
nork: Воробьев В. А. Владимир Александрович
Argitaratua: (1969)

Статистический анализ процесса переноса информации при радиометрическом методе бетатронной дефектоскопии: [оттиск статьи]
Argitaratua: ([Berlin], [Б. и.], 1970)

Исследование сцинтилляционного метода изотопной дефектоскопии материалов и изделий: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
nork: Кулешов В.
Argitaratua: (Томск, [Б. и.], 1966)

Симметричные калиброванные ослабители; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Студеникин В. Н.
Argitaratua: (1970)

Автоматизация процессов бетатронной гамма-дефектоскопии и интроскопии; Тезисы докладов второй научно-технической конференции по вопросам автоматизации производства (9-12 мая 1963 г.)
nork: Макаров Н. Я.
Argitaratua: (1964)

Оценка чувствительности метода интроскопии быстрыми моноэнергетическими электронами; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 248 : Дефектоскопия
nork: Бойко В. И. Владимир Ильич
Argitaratua: (1975)

Некоторые вопросы оптимизации основных параметров радиометрических систем бетатронной дефектоскопии: Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук
nork: Темник А. К.
Argitaratua: (Томск, 1968)

Пути повышения чувствительности вольтамперных методов с накоплением; Известия Сибирского отделения АН СССР. Серия химическая; Вып. 9, № 4
nork: Стромберг А. Г. Армин Генрихович
Argitaratua: (1978)

Выбор оптимальных параметров электродиализа; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Тихомиров И. А. Иван Арсентьевич
Argitaratua: (1970)

Магнитная система авторезонансного ускорителя; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Ишков А. П.
Argitaratua: (1970)

Некоторые итоги работы бетатронной лаборатории Томского медицинского института; Электронные ускорители
nork: Гарганеев Г. П.
Argitaratua: (1961)

Конструкции сцинтилляционных детекторов излучения для бетатронной дефектоскопии; Неразрушающие методы контроля материалов и изделий
nork: Булаев О. Ф.
Argitaratua: (1964)

К расчету потерянной электронами энергии; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Дергобузов К. А.
Argitaratua: (1970)

Топологический анализ чувствительности передачи; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 208
nork: Наумов Л. А.
Argitaratua: (1974)

Теоретическое исследование чувствительности радиационной дефектоскопии неоднородных многокомпонентных материалов; Дефектоскопия; № 3
nork: Воробьев В. А. Владимир Александрович
Argitaratua: (1966)

Пути повышения частоты ударов ручных бурильных молотков; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 108 : Исследование бурильных машин
nork: Горбунов В. Ф. Валерий Федорович
Argitaratua: (1959)

Влияние нестабильности излучения на технико-экономические показатели бетатронной дефектоскопии; Первая межвузовская научно-техническая конференция по радиационным методам и средствам неразрушающего контроля качества материалов и изделий
nork: Ананьев Л. М.
Argitaratua: (1966)

Отождествление расшифрованной колебательной структуры двухатомных молекул; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Коваленок Г. В. Галина Васильевна
Argitaratua: (1970)

Шестипараметрическое семейство коник в P3; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Матвеенко В. И. Василий Иванович
Argitaratua: (1970)

Дифференциальная геометрия семейства K(2,6); Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 184
nork: Матвеенко В. И. Василий Иванович
Argitaratua: (1970)

Бетатроны НИИ ЭИ для промышленной дефектоскопии и медицины; Известия Томского политехнического института [Известия ТПИ]; Т. 279 : Бетатроны
nork: Горбунов В. И. Владимир Иванович
Argitaratua: (1974)